[发明专利]图像传感器及其制造方法无效
申请号: | 200810085723.0 | 申请日: | 2008-03-13 |
公开(公告)号: | CN101266994A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 韩昌勋 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L23/522;H01L23/532;H01L21/82;H01L21/768 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐金国;梁挥 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种制造图像传感器的方法,包含:
形成包括第一转移晶体管的第一单位像素;
形成包括第二驱动晶体管的第二单位像素;以及
形成电连接所述第一单位像素的浮置扩散区域与所述第二单位像素的所述第二驱动晶体管的触点,
其中,所述形成所述触点的步骤是与所述形成所述第一单位像素与形成所述第二单位像素的步骤同时处理的,
其中,所述形成所述触点的步骤包含:
在第一单位像素区域和第二单位像素区域上方形成第一绝缘体;
通过选择性去除所述第一单位像素区域的浮置区域上方的所述第一绝缘体而形成第一接触孔;以及
通过填充所述第一接触孔而形成电连接第二驱动晶体管的触点。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述形成所述触点的步骤包含:
在所述第一接触孔和所述第一绝缘体之上形成多晶硅层;
在所述多晶硅层上形成第二光刻胶图案,所述第二光刻胶图案选择性地暴露出晶体管区域和触点区域的多晶硅层;以及
通过使用所述第二光刻胶图案作为蚀刻掩模而选择性蚀刻已暴露出的多晶硅层和所述第一绝缘体,同时形成所述第一转移晶体管的栅极、所述第二驱动晶体管的栅极和所述触点。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一接触孔具有小于所述第一转移晶体管的栅极的水平宽度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述触点进一步包含在所述触点的底部与形成有所述第一单位像素的基板之间形成的下绝缘体。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一接触孔具有与所述第一转移晶体管的栅极基本上相同的水平宽度。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述触点包含多晶硅。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一单位像素为主像素,而所述第二单位像素为伪像素。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述触点形成为与所述第二驱动晶体管的侧壁接触。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述触点形成为与所述第二驱动晶体管的顶侧接触。
10.一种制造图像传感器的方法,包含:
形成包括第一转移晶体管的第一单位像素;
形成包括第二驱动晶体管的第二单位像素;以及
形成电连接所述第一单位像素的浮置扩散区域与所述第二单位像素的所述第二驱动晶体管的触点,
其中,所述形成所述触点的步骤是在形成所述第一单位像素和形成所述第二单位像素的步骤之后进行处理的,
其中,所述形成所述触点的步骤包含:
在所述第一单位像素和所述第二单位像素上方形成金属层间介电层;
通过选择性去除所述第一单位像素的浮置区域上方的所述金属层间介电层而形成第二接触孔;以及
通过填充所述第二接触孔而形成电连接第二驱动晶体管的触点。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的