[发明专利]位置检测器有效

专利信息
申请号: 200810085717.5 申请日: 2008-03-13
公开(公告)号: CN101266154A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 林康一 申请(专利权)人: 大隈株式会社
主分类号: G01D5/244 分类号: G01D5/244
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 代理人: 黄威;徐金伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 位置 检测器
【权利要求书】:

1.一种用于检测目标位移的位置检测器,包括:

位置传感器,其输出两种信号,所述信号关于位移以波长λ的间距进行正弦变化,并且具有相互以90度转换的相位;

偏移存储器,其存储关于从位置传感器输出的所述两种信号的偏移值;

偏移消除电路,其从输出自位置传感器的相应的两种信号中消除存储在偏移存储器中的偏移值;

内插计算器,其在所述偏移消除之后将所述两种信号转换为位置数据;

半径计算器,其在所述偏移消除之后计算所述两种信号的和的平方根;及

偏移值计算器,其基于当测量出的位移以波长λ的整数倍改变时通过相对于半径计算器的输出值关于位置数据的变化而执行傅立叶分析所获得的具有波长λ的分量,来计算偏移值;

其中利用在偏移值计算器中获得的偏移值,来更新存储在偏移存储器中的偏移值。

2.如权利要求1所述的位置检测器,其中

基于通过关于在半径计算器的输出值中的变化而执行傅立叶分析所获得的具有波长λ的分量和具有波长λ/3的分量,所述偏移值计算器计算所述偏移值。

3.如权利要求1所述的位置检测器,进一步包括: 

振幅比校正值存储器,其存储关于从所述位置传感器输出的所述两种信号的振幅比校正值;及

振幅比校正值计算器,其基于当测量出的位移以波长λ/2的整数倍改变时所获得的位置数据和来自半径计算器的输出值,来计算待存储于振幅比校正值存储器中的振幅比校正值;

其中利用在振幅比校正值计算器中获得的振幅比校正值,来更新存储在振幅比校正值存储器中的振幅比校正值。

4.如权利要求3所述的位置检测器,进一步包括:

相位差校正值存储器,其存储关于从所述位置传感器输出的所述两种信号的相位差校正值;及

相位差校正值计算器,其基于当测量出的位移以波长λ/2的整数倍改变时通过相对于半径计算器的输出值关于位置数据的变化而执行傅立叶分析所获得的具有波长λ/2的分量,来计算相位差校正值;

其中利用在相位差校正值计算器中获得的相位差校正值,来更新存储在相位差校正值存储器中的相位差校正值。

5.如权利要求1所述的位置检测器,进一步包括:

相位差校正值存储器,其存储关于从所述位置传感器输出的所述两种信号的相位差校正值;及

相位差校正值计算器,其基于当测量出的位移以波长λ/2的整数倍改变时所获得的位置数据和来自半径计算器的输出值,来计算待存储于相位差校正值存储器中的相位差校正值;

其中利用在相位差校正值计算器中获得的相位差校正值,来更新存储在相位差校正值存储器中的相位差校正值。 

6.一种用于检测目标位移的位置检测器,包括:

位置传感器,其输出两种信号,所述信号关于位移以波长λ的间距进行正弦变化,并且具有相互以90度转换的相位;

振幅比校正值存储器,其存储关于从位置传感器输出的所述两种信号的振幅比校正值;

振幅比校正电路,其依据存储于振幅比校正值存储器中的振幅比校正值,来校正从位置传感器输出的所述两种信号的振幅比;

内插计算器,其在所述振幅比校正之后将所述两种信号转换为位置数据;

半径计算器,其在所述振幅比校正之后计算所述两种信号的和的平方根;及

振幅比校正值计算器,其基于当测量出的位移以波长λ/2的整数倍改变时通过相对于半径计算器的输出值关于位置数据的变化而执行傅立叶分析所获得的具有波长λ/2的分量,来计算振幅比校正值;

其中利用在振幅比校正值计算器中获得的振幅比校正值,来更新存储在振幅比校正值存储器中的振幅比校正值。

7.一种用于检测目标位移的位置检测器,包括:

位置传感器,其输出两种信号,所述信号关于位移以波长λ的间距进行正弦变化,并且具有相互以90度转换的相位;

相位差校正值存储器,其存储关于从位置传感器输出的所述两种信号的相位差校正值;

相位差校正电路,其依据存储于相位差校正值存储器中的相位差校正值,来校正从位置传感器输出的所述两种信号的相位差; 

内插计算器,其在所述相位差校正之后将所述两种信号转换为位置数据;

半径计算器,其在所述相位差校正之后计算所述两种信号的和的平方根;及

相位差校正值计算器,其基于当测量出的位移以波长λ/2的整数倍改变时通过相对于半径计算器的输出值关于位置数据的变化而执行傅立叶分析所获得的具有波长λ/2的分量,来计算相位差校正值;

其中利用在相位差校正值计算器中获得的相位差校正值,来更新存储在相位差校正值存储器中的相位差校正值。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大隈株式会社,未经大隈株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810085717.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top