[发明专利]发光体的测光装置

权利要求书

1.一种测光装置，自动地测量具有相对于发射方向而发射强度不 均匀的配光特性的发光元件的光量，其特征在于包括：

接收上述发光元件的发光，输出与接收到的接收光的接收强度对 应的检测数据I1～In的n个受光部件，其中上述n个为多个；

接收上述发光元件的发光，对于接收到的接收光，输出以规定的 波长间隔确定接收强度的相对值的光谱分布数据P(λ)的1个或多个 分光分析部件；

与n个受光部件对应地，分别存储以上述规定的波长间隔确定对 上述受光部件中的接收光的波长的灵敏度的分光灵敏度数据PD1 (λ)～PDn(λ)的存储部件；

从上述受光部件、上述分光分析部件、上述存储部件接收必要的 数据，执行运算动作的控制部件，其中

上述控制部件具有：

针对n个受光部件的每个，根据n个受光部件输出的检测数据I1～ In、上述存储部件所存储的n个分光灵敏度数据PD1(λ)～PDn(λ)、 上述分光分析部件输出的光谱分布数据P(λ)，计算出上述发光元件 的发射功率的光谱分布EG1(λ)～EGn(λ)的第一处理；

根据通过第一处理计算出的光谱分布EG1(λ)～EGn(λ)，计 算出n个受光部件的辐射通量EG1～EGn的第二处理；

根据通过第一处理计算出的光谱分布EG1(λ)～EGn(λ)、表 示人对光的波长λ的可见度的分光可见效率V(λ)，计算出n个受光 部件的光通量Φi的第三处理

在上述第一处理中，作为第i个受光部件的光谱分布EGi(λ)， 执行公式(A)的计算，

EGi(λ)＝Ii×P(λ)/[∑(P(λ)×PDi(λ))]   ......公式(A)

其中Ii是第i个受光部件的检测数据；PDi(λ)是第i个受光部 件的分光灵敏度数据；∑：全部波长区域中的总和计算，

在上述第三处理中，作为第i个受光部件的光通量Φi，执行公式 (B)的运算，

Φi＝Km×[∑(V(λ)×EGi(λ))]......公式(B)

Km：最大可见效率度。

2.根据权利要求1所述的测光装置，其特征在于：

上述控制部件还具有：根据上述n个光通量Φi，确定检查对象的 发光元件的发光强度的第四处理。

3.根据权利要求1所述的测光装置，其特征在于：

上述发光元件配置在透光性或半透光性的检查台上被发光驱动。

4.根据权利要求1所述的测光装置，其特征在于：

与上述发光元件的配光特性的不均匀程度对应地决定上述受光部 件的个数n，规则地将n个受光部件配置在从上述发光元件离开同一 距离的位置上。