[发明专利]闪存介质的快速筛选方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及信息存储领域，尤其是一种闪存介质的快速筛选方法和系统。

背景技术

现在闪存的市场越来越大，容量越来越高，开发商对扫描效率要求也越 来越高。而与此同时，闪存的不良品出现的概率也越来越大，传统的扫描方 法是先往闪存介质里面写入数据，然后再从闪存介质中读出数据，与写入的 数据比较，以判断闪存介质是否合格。对于一片1GByte的闪存介质，扫描一 次大概需要半个小时。

所以如果用传统的扫描来挑选出这些不良品则需要很长的时间。如何快 速筛选出这些不良品已经成为开发商越来越关注的问题。

闪存介质由若干个块(block)组成，每个块由若干个页(page)组成，每个页 又由若干个位(bit)组成，闪存以块为单位进行擦除操作，以页为单位进行编程 (写)操作，每个位有0和1两种状态，用于存储数据。正常情况下，闪存中某个 块在擦除之后，好的块中包含的所有位都应该为1，坏块擦除后无法保证所有 位都为1，可能块中所有的位都是0，可能是几个页中的所有位都是0，也可能 只有几个位是0，并且坏位表现可能不稳定，无法实现0和1之间的转换。

发明内容

本发明的目的在于提供一种扫描速度快，筛选效率高的闪存介质的快速 筛选方法。

本发明提供了一种闪存介质的快速筛选方法，用于筛选合格的闪存介质， 其特征在于，包括如下的步骤：

设定用来界定闪存介质是否为不良品的预设比例；

擦除闪存介质所有块中的数据；

检测闪存介质中的坏块；

根据检测结果筛选合格的闪存介质。

优选的，所述的检测闪存介质中的坏块包括：

读取闪存介质所有块中字节上的数据；

检测读取的字节中的数据判断该字节每个位上的数据是否等于1；

如果块中存在数据不等于1的位，则判断该块是坏块。

本发明还提供了一种闪存介质的快速筛选系统，用于筛选合格的闪存介 质，包括主机和闪存控制器，主机向闪存控制器发出操作命令并判断检测结 果，闪存控制器执行主机的命令对闪存介质执行操作，闪存控制器包括控制 器和存储器，包括如下步骤：

在主机上设定比例以界定闪存介质是否为不良品；

主机向闪存控制器发送擦除命令，闪存控制器对闪存介质进行擦除操作；

闪存控制器检测闪存介质中的坏块；

闪存控制器将检测结果返回到主机，主机筛选合格的闪存介质。

优选地，所述的闪存控制器检测闪存介质中的坏块包括：

读取闪存介质所有块中字节上的数据；

检测读取的字节中的数据判断该字节每个位上的数据是否等于1；

如果块中存在数据不等于1的位，则判断该块是坏块。

本发明还提供了一种闪存介质的坏块检测方法，包括如下步骤：

擦除闪存介质所有块中的数据；

检测闪存介质中的坏块。

优选地，所述的检测闪存介质中的坏块包括：

读取闪存介质所有块中字节上的数据；

检测读取的字节中的数据判断该字节每个位上的数据是否等于1；

如果块中存在数据不等于1的位，则判断该块是坏块。

本发明根据闪存介质的特性，依据擦除后读取的数据来判断闪存介质的 好坏，不涉及写的操作，其中的快速读操作不超过2秒钟，加上擦除，总共也 不到10秒钟，大量的节省了检测时间，提高了检测效率。

附图说明

图1是本发明第一实施例的流程图；

图2是本发明第二实施例的检测步骤流程图；

图3是本发明第二实施例的检测步骤扫描流程图；

图4是本发明第二实施例的筛选步骤流程图；

图5是本发明第四实施例的结构示意图；

图6是本发明第四实施例的流程图；

图7是本发明第四实施例的检测步骤流程图；

图8是本发明第四实施例的检测步骤扫描流程图；

图9是本发明第四实施例的筛选步骤流程图；

图10是本发明第六实施例的流程图；

图11是本发明第六实施例的检测步骤流程图。

本实用新型目的、功能及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式