[发明专利]引线端子检测方法和引线端子检测装置

说明书

本申请根据专利法第119条(a)项，请求基于2007年2月27日在日本国申请的专利申请2007-047568的优先权。通过在本说明书中言及，将其全部内容编入本申请。

技术领域

本发明涉及判断例如电子调谐器等电子装置具有的引线端子的好坏的引线端子检查方法和引线端子检查装置。

背景技术

电子调谐器(电子装置)具有的引线端子有时产生折断、咬入壳体(盖)引起的长度不够。引线端子用于连接布线电路板等，所以需要具有规定的长度；长度不够时有可能不能正常进行对布线电路板等的连接。因而，在产品检查工序对电子调谐器的引线端子进行检查。

图12是示出作为已有例1的引线端子检查方法的肉眼检查的电子调谐器的引线端子检查状态的说明图。

已有例1的引线端子检查方法，是操作者观察电子调谐器101具有的引线端子101t并作出评价判断的肉眼检查，有产生操作者疲劳、教育程度差别造成的偏差或错判，存在精度和生产率不定的问题。

图13是示出作为已有例2的引线端子检查方法(引线端子检查装置)的专用检查装置的电子调谐器引线端子检查状态的说明图。

已有例2的引线端子检查方法，将作为专用检查装置的引线端子检查装置150插入到引线端子插入孔150t，对电子调谐器101具有的引线端子101t进行电检查。基于引线端子检查装置150的情况下，每次开发引线端子101的端子数不同的产品需要新准备引线端子检查装置150，存在需要费用等经济性(生产率)低的问题。

除已有例1、已有例2外，还提出下列使用光传感器的引线端子检查方法、引线端子检查装置。

日本国特开昭61-233304号公报中揭示应用光传感器检测出电子部件(LSI)的引线变位的引线检查方法。即，该方法使对电子部件的引线投射光并用其反射光探测引线变位的光传感器移动，以依次对多根引线投射光，而且根据该光传感器输出的波形强弱的最大值判别电子部件引线形状好坏。

根据此方法，由于根据光传感器输出的波形判断引线好坏，波形强弱的检测、光传感器移动速度控制、光照射方向的控制等组成复杂，不容易实现，而且需要专用检查台等，存在通用性、价格性、控制性等方面的问题。

日本国特开平9-145333号公报中揭示检测出电子部件的端子弯曲的检查装置。即，提出的检查装置具备在对电子部件的端子排列方向平行的方向对大于等于端子宽度的宽度发射束光的投光单元、接收束光的感光单元、运算发射的束光的数据和接收的束光的数据并求出光的遮断宽度的运算单元、以及通过对运算单元输出的光遮断宽度和规定的基准值进行比较判断好坏的判断单元。然而，需要进行需要运算束光的数据并求出光遮断宽度等复杂运算的运算单元等，存在生产率、经济性等方面的问题。

日本国特开昭63-177599号公报中揭示用光传感器检测出电子部件引线端子浮出的检测方法。然而，限于浮出检测这种用途，存在完全不可能用作一般引线端子检查方法、引线端子检查装置的问题。

如上所述，根据已有例，肉眼检查在精度和生产率方面存在问题，而且用光传感器的情况下存在需要检测出输出波形强弱的单元、运算单元等复杂组成等问题。

发明内容

本发明是鉴于这种状况而完成的，其目的在于提供一种引线端子检测方法和引线端子检测装置，其中，将照射方向上的具有小于等于引线端子宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，检测出引线端子，对引线端子计数，从而能以简单组成，容易且高精度地高效率进行引线端子好坏判断。

本发明的引线端子检查方法，从光传感器对电子装置的引线端子照射照射光，并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光，从而检查引线端子的形状状态，其中，将所述光传感器构成为：将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，并检测出来自引线端子的反射光，而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测，从而对引线端子计数。

根据此组成，检测出随检测对象前端位置上的引线端子的形状状态产生的反射光，并能根据反射光的检测对引线端子的根数计数，所以能检测出引线端子的形状欠佳(遮断、弯曲、咬入电子装置的壳体等造成的长度不够、弯曲造成的位置欠佳等)，从而能容易且高精度地高效率检查引线端子好坏。

又，本发明的引线端子检查方法，将所述电子装置固定，并使所述光传感器移动。