[发明专利]透镜测量仪有效
申请号: | 200810082032.5 | 申请日: | 2008-02-28 |
公开(公告)号: | CN101256114A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 梶野正 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼德克 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 高青 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透镜 测量仪 | ||
技术领域
本发明涉及测量被检查透镜的光学特性的透镜测量仪。
背景技术
传统上,已知具有测量光学系统的透镜测量仪,该测量光学系统将测量光束投射到被检查透镜上,通过光电检测器来检测透过透镜的测量光束,以及根据检测结果来获取透镜的光学特性(球面度数S、柱面度数C、和像散轴角度A)。这样的传统透镜测量仪被配置成根据围绕测量光轴布置的一组4个测量目标(原则上3个测量目标)的偏差来测量透镜的光学特性,该偏差通过光电检测器来检测(参见待审日本专利申请公布第Sho60-17335号和与待审日本专利申请公布第Sho50-145249号相对应的USP 3,880,525)。另外,还提出了使用布置在换镜旋座内的多个测量目标,以便于测量透镜的光学特性分布和渐变度数透镜的远部和近部的透镜测量仪(参见与待审日本专利申请第2003-75296号相对应的USP 6,972,837)。对于任何透镜测量仪,单视觉透镜的测量基本上通过利用布置在围绕测量光轴直径为2到3mm的圆周上的测量目标来进行,因为测量目标布置得离测量光轴越远,像差的影响就越大。
但是,在基于测量光轴附近的测量目标的测量中,根据透镜的度数和透镜表面的状态,光学特性的测量变得不稳定,这可能对测量精度的可靠性不利。换句话说,当透镜的屈光力弱时,光轴附近的测量目标的偏差小,从而测量值趋向于不稳定。具体地说,当柱面度数弱时,受此影响的像散轴角度极大变化,使测量结果不稳定和测量精度低。另外,在利用测量光轴附近的测量目标的测量中,当在测量区中存在划痕或尘土时,测量值也变得不稳定,对测量精度的可靠性不利。
发明内容
本发明的目的是,提供一种能够高度稳定和精确地获取透镜的光学特性的透镜测量仪。
为了达到所述目标并按照本发明的目的,一种测量透镜的光学特性的透镜测量仪具有:测量光学系统,该测量光学系统包括:具有以预定图案围绕测量光轴布置的多个测量目标的目标面板,所述测量目标至少具有在测量光轴附近的第一区域中的第一测量目标、和在第一区域之外的第二区域中的第二测量目标;和光电接收经过透镜的测量光束的光电检测器;计算光学特性的计算装置,该计算装置包括根据光电检测器对第一测量目标的检测结果来计算透镜的第一光学特性的第一计算装置、和根据第一测量目标的检测结果和第二测量目标的检测结果来计算透镜的第二光学特性的第二计算装置;以及显示控制装置,如果第一计算装置的计算结果和光电检测器的检测结果之一满足预定条件,则显示第二光学特性作为透镜的光学特性,以及如果未满足预定条件,则显示第一光学特性作为透镜的光学特性。
本发明的其它目的和优点在如下的描述中给出,并且从该描述中明显看出,或可以通过实践本发明获知。本发明的目的和优点可以通过权利要求书中的透镜测量仪来实现和达到。
附图说明
插入本说明书中构成本说明书一部分的附图例示了本发明的实施例,并且与说明书一起用于说明本发明的目的、优点和原理。在附图中,
图1是例示根据本发明优选实施例的透镜测量仪的外表图;
图2是例示根据本发明优选实施例的透镜测量仪的光学系统和控制系统的图;
图3是例示测量目标的目标图案的图;
图4是示出根据本发明优选实施例的操作例子的流程图;以及
图5A、5B和5C是例示用于对准的显示屏的图。
具体实施方式
下面参照附图提供根据本发明优选实施例的详细描述。图1是例示根据本发明优选实施例的透镜测量仪的外表图。
标号1是透镜测量仪的主体。显示器2是液晶显示器等,在显示器2上显示测量结果和测量用于对准的目标和其它对象所需的信息。通过按下与显示器2上的开关显示相对应的用于输入的开关3之一,输入诸如切换测量模式的必要指令。在其上安装被检查透镜LE的换镜旋座4是测量的基准点。向下移动透镜支架5,以便稳定地保持安装在换镜旋座4上的透镜LE。
当测量镜架内的透镜时,使可在前后方向上移动的架板6与镜架的下部(戴上眼镜时的下部)接触,以便增加稳定性,从而提供测量像散轴角度的基准。标记机构7用于在透镜LE上做标记。READ(读取)开关8用于读取透镜LE的光学特性的数据。当按下READ开关8时,测量值在显示器2上保持静止并存储在透镜测量仪中。
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