[发明专利]发光装置有效

专利信息
申请号: 200810074176.6 申请日: 2008-02-27
公开(公告)号: CN101275726A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 矶部晃一;野寄靖史;盐津文规 申请(专利权)人: 株式会社小糸制作所
主分类号: F21S8/10 分类号: F21S8/10;F21S4/00;F21V23/00;H05B37/03;F21W101/02;F21Y101/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 发光 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及发光装置,特别涉及用半导体发光元件构成车用灯具光源,具备用于点亮半导体发光元件的点亮电路的发光装置。

背景技术

以往,众所周知,作为车用灯具,将LED(Light Emitting Diode)等半导体发光元件用于光源,此类车用灯具中安装了用于控制LED点亮的点亮控制电路。

作为点亮控制电路,使用开关调节器(switching regulator),该开关调节器能够基于LED的电流控制对LED的输出电压。即使对开关调节器串联或并联连接多个LED,开关调节器也能够控制输出电压,使得流过各LED的电流为规定电流。

但是,若开关调节器的输出短路,或者接地(地絡),则开关调节器的负荷就会变重,伴随过度的功率负担而发生故障。另外,如果开关调节器的输出因为断线而开路,例如在回扫式(flyback)开关调节器中输出电压会过度上升。

因此,提出了检测出开关调节器的输出端的异常后,降低开关调节器的输出电压的方法(参照专利文献1)。

【专利文献1】日本特开2004-134147号公报(第2页-第4页、图1)

在上述以往技术中,开关调节器的输出端子接地时,设为开关调节器的输出端发生异常,但即使在各LED间的任意一个部位发生接地,也不能够检测该接地。

即,在以往技术中,采用了以LED块整体作为开关调节器的负荷,当LED块整体发生异常时,降低开关调节器的输出电压的方式,所以即使各LED间的任意一个部位发生接地,也不能够检测该接地。

发明内容

本发明是鉴于上述以往技术的课题而完成,其目的在于,检测出与多个半导体光源的各电极连接的部位中多个检测对象部位的接地。

为了解决所述课题,技术方案1的发光装置构成为,包括:光源块,多个半导体光源互相串联连接;电阻,与构成所述光源块的多个半导体光源中的任意一个半导体光源并联连接,并连接在连接所述多个半导体光源的各电极的部位中两个检测对象部位;以及接地检测电路,连接在所述两个检测对象部位中接地电位侧的检测对象部位,所述光源块,其一端连接在所述电源上,另一端接地,所述接地检测电路,基于所述接地电位侧的检测对象部位的电压,检测所述两个检测对象部位的任意一个发生接地。

(作用)若连接在多个半导体光源的各电极上的两个检测对象部位中的任意一个发生接地,则发生接地的检测对象部位的电压变成接地电位,所以通过用接地检测电路检测出检测对象部位的电压变成接地电位的变化,能够检测出连接在多个半导体光源的各电极的部位中两个检测对象部位的任意一个发生接地。另外,不必与各半导体光源并联设置电阻,只给作为检测对象的特定的半导体光源设置电阻从而检测接地,所以比起给全部的半导体电源并联设置电阻,能够降低元件个数以及成本。

技术方案2的发光装置构成为,在如技术方案1所述的发光装置中,所述多个半导体光源中与所述电阻并联的半导体光源和所述电阻,配置在与配置其他半导体光源的主体部件不同的主体部件上,连接与所述电阻并联连接的半导体光源和所述电阻的电路的一部分被安装涂层部件。

(作用)用与配置其他半导体光源的主体部件不同的主体部件配置多个半导体光源中并联连接电阻的一部分半导体光源时,在根据与电源的距离等假设发生接地的情况下,通过在连接一部分半导体光源与电阻的电路的一部分安装涂层部件,即使连接一部分半导体光源与电阻的电路的一部分在安装时被夹在灯具内的其他元件和车身等,也可防止连接一部分半导体光源与电阻的电路的一部分发生接地。还有,即使是配置一部分半导体光源与电阻的主体部件是可动式部件,主体部件可动时,也能够防止连接一部分半导体光源与电阻的电路的一部分发生接地。

技术方案3的发光装置构成为,在如技术方案1所述的发光装置中,对应于连接所述多个半导体光源的各半导体光源间的连接点,设置多个所述电阻,所述多个电阻构成连接所述电源与所述接地检测电路的电阻体,同时,以连接所述各半导体光源的电极的部位分别作为检测对象部位,通过所述各检测对象部位互相串联连接。

(作用)连接在多个半导体光源的各电极上的各检测对象部位中的任意一个发生接地时,发生接地的检测对象部位的电压变成接地电位,同时,连接在接地检测电路的检测对象部位电压也变成接地电位,因此,通过用接地检测电路检测此电压变化,能够检测出在连接多个半导体光源的各电极的各检测对象部位的任意一个发生接地。

由以上说明可明白,根据技术方案1,可以检测连接多个半导体光源的各电极的部位中两个检测对象部位的任意一个发生接地。

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