[发明专利]光学分析读数装置

权利要求书

1.一种光学分析读数装置，包括至少一个能够入射到试剂条上的光源，该试剂 条包括空间上分离的第一、第二和第三区域，其特征在于，该光源包括三个 分别对应该试剂条上第一、第二和第三区域的发光二极管，该装置还包括一 个能够接受该试剂条上三个区域的反射光的光检测器。

2.如权利要求1所述的光学分析读数装置，其特征在于，该发光二极管和该光 检测器位于该试剂条的同侧，并与该试剂条横向偏移。

3.如权利要求2所述的光学分析读数装置，其特征在于，所述的光检测器位于 第一区域和第三区域之间并与该试剂条横向偏移。

4.如权利要求2所述的光学分析读数装置，其特征在于，所述的光检测器正对 于该试剂条的第二区域并与该试剂条横向偏移。

5.如权利要求2所述的光学分析读数装置，其特征在于，所述的三个发光二极 管之间设有栅栏。

6.如权利要求5所述的光学分析读数装置，其特征在于，还包括防止照射该试 剂条的第三区域的第三个发光二极管的光照射到该试剂条第一区域的第一 个栅栏，以及防止照射该试剂条的第一区域的第一个发光二极管的光照射到 该试剂条第三区域的第二个栅栏。

7.如权利要求2所述的光学分析读数装置，其特征在于，该发光二极管和该光 检测器之间设有隔板。

8.如权利要求1所述的光学分析读数装置，其特征在于，该光检测器接受该试 剂条上各个区域的光强不同。

9.如权利要求8所述的光学分析读数装置，其特征在于，该光检测器完全接受 该试剂条上至少一个区域上的全部光。

10.如权利要求1所述的光学分析读数装置，其特征在于，所述的光检测器包括 光电二极管。

11.一种光学分析读数装置，其特征在于：包括可以容纳试剂条的外壳；以及一 个可以照射试剂条的光源，该光源包括三个发光二极管，可以分别照射该试 剂条的参比区域，检测区域和控制区域；以及一个用于检测从该试剂条的参 比区域，检测区域和控制区域上反射的光的光检测器。

12.如权利要求11所述的光学分析读数装置，其特征在于，该发光二极管和该 光检测器位于该试剂条的同侧，并与该试剂条横向偏移。

13.如权利要求11所述的光学分析读数装置，其特征在于，该光检测器和该检 测区域的距离小于该光检测器与该试剂条其他区域的距离。

14.如权利要求11所述的光学分析读数装置，其特征在于，该光检测器为光电 二极管。

15.一种光学分析读数装置，其特征在于，包括：一个能支持液体横向流动的试 剂条，该试剂条包括参比区域，检测区域和控制区域；一个可以放置并固定 该试剂条的外壳；一个光源，包括分别照射该试剂条的参比区域，检测区域 和控制区域的三个发光二极管；一个可以用于检测从该试剂条的参比区域， 检测区域和控制区域上反射光的光检测器。

16.如权利要求1至权利要求15之一所述的光学分析读数装置，其特征在于， 进一步包括：计算电路，对光检测器产生的电流信号进行响应，该信号代表 试剂条上是否存在液体样本；计算沿该试剂条流动的液体的速度；将计算出 的流速与上限值和下限值进行比较；如果计算出的流速超出了上限值和下限 值，放弃该分析结果。

17.如权利要求1至权利要求15之一所述的光学分析读数装置，其特征在于， 进一步包括：计算电路，对输入信号进行响应，该信号代表了试剂条上的至 少一个区域中的分析物的量或分析物的累计速率；将该输入信号与第一阈值 进行比较；将该输入信号与小于第一阈值的第二阈值进行比较；如果该输入 信号大于第一阈值或该输入信号小于第二阈值，产生一个该输出信号，如果 该输出信号大于第一阈值，该输出信号指示第一种结果，如果该输入信号小 于第二阈值，该输出信号指示第二种结果；并且，如果该输入信号大于第一 阈值或小于第二阈值，终止测试。

18.一种测定试剂条实施的分析结果的方法，其特征在于，包括：将样本转移到 试剂条上，该试剂条相对于光学分析读数装置定位，该读数装置包括容纳一 个光源和一个光检测器的外壳；以及测量该光检测器接受的光量；其中，该 光源包括三个分别对应试剂条上第一、第二和第三区域的发光二极管，该光 检测器能够接受试剂条上三个区域的反射光。