[发明专利]光电测量仪

说明书

技术领域：本发明所涉及的是光电测量仪，具体涉及的是一种用于测量被测量物体尺寸的光电测量仪。

背景技术：现有技术中，测量物体均采用尺子来测量，由于操作手法不同，读数就难免会出现误差，因此已经不能满足目前社会追求高标准、高精确度的要求。

发明内容：鉴于公知技术中所存在的问题，本发明所解决的技术问题是为了提供一种设计合理，结构简单，读数精确及高速测量并且不受使用年限所制的一种光电测量仪。为了实现上述目的，本发明是采用如下技术方案来实现的：该种光电测量仪，具有光源发射区、光源识别接收区，所述光源发射区与光源接收识别区上下对应设置，其特征在于所述光源发射区包括有焊接在发射线路板上的白色光发光二极管以及与电源连接的发射接线柱，所述发射线路板、白色光发光二极管及发射接线柱通过发射光源塑料外壳和透明胶封封装成为一个光源发射的成品电子元器件，且发射接线柱外露于发射光源塑料外壳；所述光源识别接收区包括有焊接在接收线路板上的硅光敏二极管以及与电源连接的接收接线柱，且接收接线柱外露于收接塑料外壳，所述接收线路板、硅光敏二极管及接收接线柱通过收接塑料外壳和透明件封装成为一个接收的成品电子元器件。

本发明由于将白色光发光二极管组件与硅光敏二极管组件分别独立的封装在塑料外壳内成为独立的电子元器件，可作为发射和接收相配合进行使用的电子元器件，与可编程控制器连接后，可以进行自动检测被测物体的尺寸，由于进行密封封装，并且不受使用年限所制约，堆积灰尘时，对电子元器件的塑料外壳透明件表面进行擦拭即可。

附图说明：本发明有如下附图。

图1为本发明结构剖视图；

图2为本发明图1沿A-A方向的结构示意图；

图3为本发明的结构示意图。

具体实施方式：附图表示了本发明的结构及其实施例，下面再结合附图进一步描述其实施例的有关细节及工作原理，本发明包括有上光源区与上光源区相对应的下光源识别接收区，并且与微处理器相连接进行使用，所述上发射的成品电子元器件由封装在发射光源塑料外壳10和透明胶9内的白色光发光二极管6、发射线路板7及发射接线柱8所构成，所述发射接线柱8外露于发射光源塑料外壳10，若干支白色光发光二极管6焊接在发射线路板7上，并且并联后通过发射接线柱8与电源连接，下接收的成品电子元器件则由封装在接收塑料外壳5和透明件4内的硅光敏二极管1、接收线路板2及接收接线柱3所构成，所述接收接线柱3外露于接收塑料外壳5，所述硅光敏二极管1焊接在接收线路板2上，并通过接收接线柱3与电源连接。

本发明由于将各零件封装在塑料外壳内后构成了一个独立的电子元器件，只要将电子元器件安装在支架上接通电源便可。本发明工作时，将物体放置在接收区域或从接收区域走过，由于被测物体尺寸不同，通过时，它的尺寸部位被光源所照射，光源识别接收区域的电子元件接收来自光源信号，从而获得测量值，光源接收区域的电子元器件可感知信息又传输信息。由于光源照射物体，由此物体的尺寸两端遮挡住光源，被遮挡部件相对应的电子元器件没有接收到光波信号，没有被遮挡部份相对应的电子元器件会接收到光波信号，微处理器即可测定实际物体的尺寸，从而反映到显示器进行读取。本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点与显著的进步。