[发明专利]一种电磁无损检测探头的检测方法无效
申请号: | 200810057273.4 | 申请日: | 2008-01-31 |
公开(公告)号: | CN101231264A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
发明(设计)人: | 陈铁群;谢宝忠;刘桂雄;张清华;洪晓斌 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82;G01R15/12;G01R33/00 |
代理公司: | 北京捷诚信通专利事务所 | 代理人: | 魏殿绅 |
地址: | 510640广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电磁 无损 检测 探头 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种电磁无损检测探头的检测方法,尤其涉及一种具有涡流检测、漏磁检测及磁记忆检测一体化功能的检测方法。
背景技术
随着质量监控的要求越来越严格,对无损检测技术也提出了更高的要求。无损检测技术能反映部门、行业、地区甚至国家整体工业技术水平,能带来明显的效益,在工业发达国家,无损检测已成为与设计、材料、制造(工艺)并列的四大关键技术,对机械、石化、航空、航天、汽车、压力容器、铁路、道路、核工业等诸多相关行业和技术领域的进步起重要作用。
涡流检测、漏磁检测和磁记忆检测均为基于电磁场的无损检测方式。涡流检测技术主要有两个缺点:高分辨力与探头的有效扫描宽度之间存在矛盾;缺陷分辨力随埋藏深度的增加而迅速降低,对深层的缺陷检测非常困难。传统的涡流方法在大面积扫描和深层缺陷检测两方面都存在问题,对于高分辨力的大面积涡流检测,阵列涡流探头比传统的机械式扫描探头更具优势。漏磁检测是对磁化后的铁磁性材料表面及近表面的检测,在缺陷处形成漏磁场,通过对漏磁场的检测就可以研究和分析缺陷。磁记忆检测技术是基于铁磁体的磁弹性效应和漏磁场的不可逆效应,对铁磁性金属部件进行早期诊断的行之有效的方法,可以快速检测出缺陷的位置。在这几种电磁无损检测方式中,对电磁场的准确测量成为关键。涡流检测是基于动态电磁场检测方式;漏磁检测采用直流、交流或永磁体对所测区域励磁,利用静态磁场或动态磁场检测方式;磁记忆则利用静态电磁场作为磁化源。
发明内容
为解决上述的问题与缺陷,本发明提供了一种电磁无损检测探头的检测方法。
本发明是通过以下技术方案实现的:
本发明所涉及的一种电磁无损检测探头的检测方法,包括:
接收命令,该命令为从主机接收到的工作参数;
根据所述接收到的工作参数对检测方式进行设定,并将自身的各个特性参数发送到主机;
根据所述检测方式的设定启动工作线圈和阵列巨磁传感元件并进行检测;
输出检测到的磁场信号到主机,且该主机对接收到的磁场信号进行数据分析与处理;
接收主机信号处理中与探头组成元件相关的参数,并对存储于Flash芯片的探头各相应元件的特性参数进行修正。
所述检测方式为涡流检测、漏磁检测及磁记忆检测等电磁无损检测。
本发明提供的技术方案的有益效果是:
根据巨磁阻或巨磁阻抗传感元件的特性,并通过控制不同工作线圈的不同工作方式,实现了:
1、涡流检测、漏磁检测及磁记忆检测,并将基于动态电磁场和静态电磁场的无损检测技术统一起来,可进行多种方式协同检测,可提高检测的可靠性。
2、通过合理地排列阵列巨磁传感元件,既可以进行水平方向磁场的测量,又可以进行垂直方向磁场的测量,实现二维磁场的测量。
3、阵列巨磁传感元件通过分组共用多路转换器和前置放大器,可降低信号处理的复杂度,简化了系统设计,提高了探头的系统性能。
附图说明
图1是电磁无损检测探头的检测方法流程图;
图2是电磁无损检测探头进行涡流检测时的方法流程图;
图3是电磁无损检测探头进行漏磁检测时的方法流程图;
图4是电磁无损检测探头进行磁记忆检测时的方法流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述:
实施例1
本实施例提供了一种电磁无损检测探头的检测方法,其中,
参见图1,该方法是通过控制不同工作线圈的不同工作方式实现的,其探头的检测方法主要包括以下步骤:
步骤101:探头从主机接收工作参数。
所述命令是探头通过I2C或SPI串行总线从主机接收工作参数。
步骤102:探头根据从主机接收到的命令进行检测方式的设定,并且该探头向主机发送探头自身的各个特性参数。
步骤103:依据探头检测方式的设定启动工作线圈和阵列巨磁传感元件,并开始进行涡流检测、漏磁检测或磁记忆检测。
所述巨磁传感元件分为Y向磁场巨磁传感阵列与X向磁场巨磁传感阵列,Y向磁场巨磁传感阵列用以进行磁场垂直分量的测量; X向磁场巨磁传感阵列用以进行磁场水平分量的测量,实现二维磁场的测量。
步骤104:输出检测的磁场信号到主机,且该主机对接收到的磁场信号进行数据分析与处理,并将处理后与探头各元件相关的参数发送到探头基体。
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