[发明专利]取向硅钢[001]晶向偏离角α,β的测定方法

权利要求书

1.取向硅钢[001]晶向偏离角α、β的测定方法，晶向偏离角α是指[001]晶向在轧面内偏离轧向的角度，晶向偏离角β是指[001]取向对轧向的倾角，其特征是用X射线衍射仪对硅钢片试样进行非对称X射线衍射测定，首先在固定硅钢(002)晶面的衍射角2θ的基础上，进行ω扫描获得相应的衍射图谱，取得每一峰值所对应的ω角，再依据[001]晶向偏离角α或β与ω角的关系式α或β＝|ω-2θ/2|，相应确定出[001]晶向偏离角α或β。

2.根据权利要求1所述[001]晶向偏离角α、β的测定方法，其特征是将硅钢片切割成面积为(2-10)*10mm²的试片，由2～10个试片以轧制方向重叠起来、制成层叠试样，对硅钢片试样的端面进行ω扫描，来得到取向硅钢[001]晶向的偏离角度α或β分布。

3.根据权利要求2所述[001]晶向偏离角α、β的测定方法，其特征是取向硅钢片的2～10片按轧制方向重叠起来、制成层叠试样，针对硅钢片的重叠层表面和侧面进行ω扫描，扫描面积为(2-5)*10mm²，获得取向硅钢立方晶系中[001]晶向偏离角α或β分布。

4.根据权利要求1所述[001]晶向偏离角α、β的测定方法，其特征是以相应的每个α或β角度的衍射峰的相对强度为权重，对[001]晶向偏离角α或β进行加权平均，计算相应α或β角的平均值。

5.根据权利要求1、2、3所述[001]晶向偏离角α、β的测定方法，其特征是具体实施方案，选择Fe-3％Si两种规格的硅钢片，厚度分别为0.18mm和0.27mm，相应制成1号，2号层叠试样，采用荷兰Panalytical公司的X’Pert Pro MPD型衍射仪，Co靶，电压35kV，电流40mA，首先固定硅钢(002)晶面衍射角2θ＝77.28°，然后，进行X射线衍射ω扫描，扫描面积为(2～5)*10mm²，获得[001]晶向偏离角α或β的分布，相应计算出1号试样α＝3.6°，β＝4.9°，相应平均值为4.3°，2号试样的α＝5.7°，β＝4.2°，相应的平均值为5.0°。