[发明专利]一种数控机床加工性能监控系统有效

专利信息
申请号: 200810048524.2 申请日: 2008-07-25
公开(公告)号: CN101334656A 公开(公告)日: 2008-12-31
发明(设计)人: 李斌;刘红奇;唐小琦;毛新勇;陈吉红 申请(专利权)人: 华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司
主分类号: G05B19/406 分类号: G05B19/406
代理公司: 华中科技大学专利中心 代理人: 曹葆青
地址: 430074湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 数控机床 加工 性能 监控 系统
【权利要求书】:

1.一种数控机床加工性能监控系统,包括管理服务器、集线器和至少一个监控装置,集线器分别与管理服务器和监控装置相接,其特征在于,

所述监控装置包括参数选择模块、标定模块、控制模块和监测模块,参数选择模块用于设置监测环境参数;标定模块用于在所述监测环境参数下,确定正常加工时机床的工作状态,将其作为机床加工性能判断基准;控制模块用于接收参数选择模块的监测环境参数和标定模块的标定结果,采集反映机床现场加工状态的数据,对反映机床现场加工状态的数据进行处理,将处理结果与机床加工性能判断基准比较,根据设定的控制策略发出控制指令对加工过程进行控制,并将反映机床现场加工状态的数据、对反映机床现场加工状态数据的处理结果、控制指令和控制结果传送给管理服务器;监测模块用于采集、处理反映机床加工性能的数据,并传送给管理服务器;

管理服务器根据监控装置反馈的信息分析机床加工性能状态和发展趋势;

所述反映机床现场加工性能状态的数据具体为:主轴电机和进给电机的电流,主轴的振动量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司,未经华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810048524.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top