[发明专利]用于脱落细胞检测的自动显微成像仪及检测方法有效

专利信息
申请号: 200810048122.2 申请日: 2008-06-23
公开(公告)号: CN101339185A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 曾立波 申请(专利权)人: 武汉呵尔医疗科技发展有限公司
主分类号: G01N33/48 分类号: G01N33/48;G01N21/84
代理公司: 武汉开元专利代理有限责任公司 代理人: 朱盛华
地址: 430223湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 用于 脱落 细胞 检测 自动 显微 成像 方法
【权利要求书】:

1.利用自动显微成像仪器检测脱落细胞DNA含量的方法,其特征在于自动显微成像仪器包括显微镜、计算机及其它的外设,显微镜上所装的数码摄像机接计算机,显微镜的自动上片装置通过自动上片控制系统与计算机连接,显微镜的自动载物台通过自动载物台三维移动控制系统与计算机连接,自动载物台下有滤光器、镜,计算机分别接其它的外设,其它外设包括打印机、显示器和照明系统、照明稳定系统;

在涂片分析前,对待检验样本涂片进行福尔根染色,滤光器选出中心波长590纳米/带宽10纳米的带通滤光片参与成像,

分析开始后,自动上片装置自动取出一片待检验样本涂片,送到载物台的显微镜物镜下,三维自动载物台在计算机的控制下自动聚焦后采集特定光谱段图像送入到计算机中供计算机进行图像处理和分析,滤光器设置为中心波长590纳米/带宽10纳米的特定光谱段,采集光谱图象要进行背底校正,校正的方法是和预先采集的空视场的图像进行比值或相减运算,

检测出的细胞用二值滤波滤除噪声后测量面积和周长,删除明显不属于细胞的杂质,对剩下的细胞再测量细胞的光谱和其他形态参数,利用590纳米光谱测量细胞内DNA含量,依据测量的参数,利用模式识别算法将测量的细胞分类成脱落细胞、白细胞、淋巴细胞和杂质,

完成一个视场后自动移到下一视场再采集图像分析,直至分析完所有的细胞或达到预先设定的分析细胞数目后停止本张涂片扫描,将涂片送回玻片盒,然后取出下一张待检验样本涂片,循环反复直到分析完所有待分析样本,

完成所有待分析样本后,计算机将给出辅助诊断数据,辅助诊断数据包含细胞DNA含量信息的柱状分布图和散点分布图,由打印机打印出报告。

2.根据权利要求1所述的利用自动显微成像仪器检测脱落细胞DNA含量的方法,其特征在于辅助诊断数据还可包括细胞异倍体数目。

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