[发明专利]一种基于拟合优度检验的雷达目标恒虚警检测方法有效
申请号: | 200810045692.6 | 申请日: | 2008-07-30 |
公开(公告)号: | CN101329400A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | 皮亦鸣;邓晓波;曹宗杰;闵锐;李晋 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S13/04 | 分类号: | G01S13/04;G01S7/02 |
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地址: | 610054四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 拟合 检验 雷达 目标 恒虚警 检测 方法 | ||
1.一种基于拟合优度检验的雷达目标恒虚警检测方法,包括以下步骤:
步骤1通过雷达接收系统接收N个脉冲,形成快慢时间域上的N行R列的数据矩阵,其中R表示雷达探测空间总的距离单元数;
步骤2将步骤1所得的数据矩阵进行对数放大,将威布尔型的背景分布转化为极大值分布型的位置-尺度类背景分布,得到对数放大后的N行R列的数据矩阵;
步骤3根据步骤2所得的对数放大后的N行R列的数据矩阵,对于任一待检距离单元,都对应有N个待检样本Z={z1,z2,...,zN};选择前后相邻的M个距离单元作为参考单元,得到L=M×N个背景样本;
步骤4利用步骤3所得的背景样本估计背景分布的位置参数和尺度参数,具体包括以下步骤:
步骤4-1对L=M×N个背景样本从小到大排序并删除后面的r个样本以屏蔽干扰目标影响,得到有序背景样本序列Y=(y(1),...,y(L-r))T;
步骤4-2采用最优线性无偏估计器,按下式计算得到背景分布位置参数估计值和尺度参数估计值
其中,D=(IL-r u0)是(L-r)×2的辅助矩阵,而IL-r是一个(L-r)维的单位向量;u0和C0分别是(L-r)维标准有序向量Y0的均值和协方差矩阵;
步骤5对步骤3所得的任一待检距离单元的N个待检样本Z={z1,z2,...,zN}按下式进行归一化处理,得到归一化后的待检样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}:
步骤6对归一化后的待检样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}采用Anderson-Darling拟合优度检验:
其中,F(·)表示极大值分布函数;
如果检验统计量A2大于所设门限η,H1假设被接受,即归一化后的待检样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}不服从极大值分布型背景分布,从而判断出该待检距离单元有目标存在;如果检验统计量A2小于所设门限η,H0假设被接受,即归一化后的待检样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}服从极大值分布型背景分布,从而判断出该待检距离单元没有目标存在。
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