[发明专利]化学气相沉积的预处理方法有效

专利信息
申请号: 200810041181.7 申请日: 2008-07-30
公开(公告)号: CN101638776A 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 翟志刚;陈彤;李瑞秋 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: C23C16/02 分类号: C23C16/02
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 王 洁
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 化学 沉积 预处理 方法
【权利要求书】:

1.一种化学气相沉积的预处理方法,其特征在于,步骤包括:在置入产品晶 圆前,将表面薄膜成分与产品晶圆所需化学气相沉积的薄膜成分不相同的 挡片晶圆置入晶舟中,并在挡片晶圆表面预先沉积一层与产品晶圆所需化 学气相沉积的薄膜成分相同的薄膜,之后,将产品晶圆置入晶舟中,沉积 产品晶圆所需化学气相沉积的薄膜。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述预先沉积为化学气相沉积。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述在挡片晶圆表面预先沉积的 薄膜厚度为10-5000埃。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述晶圆所需化学气相沉积的薄 膜成分为氮化硅。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述挡片晶圆的表面薄膜成分为 二氧化硅。

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