[发明专利]双光路去噪声载波－包络相位测量装置

权利要求书

1.一种双光路去噪声载波-包络相位测量装置，特征是其构成包括：沿待测激光束的前进方向上依次是第一透镜(1)、白宝石片(2)、第二透镜(3)和第一分束片(4)，该第一分束片(4)将激光分为透射光束和反射光束，所述的透射光束，经延时器(5)延时后被第二分束片(11)反射；所述的反射光束由第一反射镜(6)反射后经第三透镜(7)、BBO晶体(8)、第四透镜(9)，被第二反射镜(10)反射，透过所述的第二分束片(11)，与该第二分束片(11)的反射光束合并成一束，射入光谱仪(12)的狭缝中，该光谱仪(12)与计算机(13)连接，所述的白宝石片(2)位于第一透镜(1)的焦点，所述的BBO晶体(8)位于所述的第三透镜(7)的焦点后1厘米，所述的第一分束片(4)、第二分束片(11)、第一反射镜(6)和第二反射镜(10)与射入的光束呈45°，所述的第一反射镜(6)和第二反射镜(10)为全反射镜，所述的延时器(5)是由相互垂直的两块全反镜放在移动滑轨上和调节螺杆而构成；

测量时，所述的光谱仪(12)同时采集两路基频光干涉条纹和基频光与倍频光干涉条纹：

基频光干涉后的电场表示为：

E3=A3·ei(ω1·(L1-L2)/c)]]>(5)”

基频光和与倍频光干涉后得到：

(8)”

所述的光谱仪(12)获得的电场强度以数据形式保存在计算机(13)中，对(5)式取自然对数并取虚部，得：

Φ_noise＝ω₁·(L₁-L₂)/c    (9)

Φ_noise表示噪声的相位，

对(8)式取自然对数并取虚部，得：

(10)

Φ_ce&noise表示信号和噪声的混合相位，

由式(9)和(10)我们得到没有噪声干扰的载波-包络相位

(11)

对某一时刻的干涉条纹进行处理就可以获得当时的载波-包络相位值对一段时间内的干涉条纹进行采样，就可以获得这段时间内CEP值的变化情况，即获得了载波-包络相位的稳定性。