[发明专利]水上测量时经纬仪的调校方法有效

专利信息
申请号: 200810037966.7 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN101586964A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 张洪春 申请(专利权)人: 上海船厂船舶有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01B11/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 薛 琦;朱水平
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 水上 测量 经纬仪 调校 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种水上测量的方法,特别是涉及一种水上用经纬仪三维测 量时的调校方法。

背景技术

现有的水上三维测量,一般是采用简单的工具进行多基面的测量,往往 不能做到一次测量就能获得所需的数据,同时误差可达到几十毫米,测量所 得的数据准确性很差。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服:过去不能在水上调校经纬仪,无 法精确地进行水上三维测量且不能做到一次测量的状况,提供了一种水上测 量时经纬仪的调校方法,为精确水上的三维测量提供了解决方案。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:一种水上测量时经 纬仪的调校方法,其调校步骤包括:

S1、先在平行于基面的平面上建一平面坐标系;

S2、以该原点为中点在横、纵坐标轴上量取两对分别相等的线段,构成 坐标的横轴和纵轴,将该线段的端点作为该坐标轴上的四个远点;

S3、将经纬仪置于坐标原点上,并关闭经纬仪的自动调平;

S4、以该原点为基点,先在该纵轴上调校经纬仪,直至该经纬仪测量轴 心至该纵轴上两远点的距离相等;

S5、在S4的基础上对该纵轴做倒像校准至合格;

S6、旋转该经纬仪至该横轴,对该横轴上的远点进行多次调校,直至经 纬仪测量轴心到该横轴上两远点的距离完全相等;

S7、在S6的基础上对横轴做倒像校准至合格;

S8、旋转该经纬仪到纵轴,重复以上S4~S7步骤,直至该经纬仪测量轴 心到该横轴和纵轴上远点的距离完全相等。

其中,该平面坐标系是由两纵横相交的直线组成,该两直线的交点为坐 标的原点。

其中,该坐标横轴和纵轴分别相等或不相等。

其中,调校合格的标准是经纬仪的测量轴心到该横轴、纵轴上四个远点 的距离相等。

其中,该横轴、纵轴上四个远点的连线为圆形、方形或菱形。

其中,该测量轴心到该横轴、纵轴上四个远点的距离相等是指:该经纬 仪对准同一坐标轴一端的远点时,保持垂直度盘的读数不变,旋转180°后 仍能对准该同一坐标轴的另一端远点。

其中,该倒像校准合格的操作为:将经纬仪对准一坐标轴线后,将经纬 仪水平和垂直各旋转180°,检查对准情况;当经纬仪在两次对准后均能找 准坐标轴线时,倒像校准合格。

上述的水上测量时经纬仪的调校方法,该坐标系建立在船舶的甲板或平 台上。

上述的水上测量时经纬仪的调校方法,该平面坐标大小为测量范围的 1/3以上。

本发明的积极进步效果在于:

1、大幅提高了水上三维测量的精度,精度可以达到±3mm/100m。

2、免去了船舶在需要三维测量时必须进干船坞的情况,有效的降低了 船舶的进坞费用和运输费用。

3、节约了水上测量成本,提高了测量效率。

附图说明

图1为本发明的一实施例中立体坐标图(上端为经纬仪轴心)。

图2为本发明一实施例中纵轴、横轴相等的平面坐标图。

图3为本发明的一实施例纵轴、横轴不相等的平面坐标图。

具体实施方式

下面结合附图给出本发明较佳实施例,以详细说明本发明的技术方案。

如图1至图3所示,本发明的实施例中水上测量时经纬仪的调校方法, 其步骤包括:

S1、首先根据所需测量的范围,在一个平行于基面的平面上建一坐标系, 可以通过在船舶平台或水平甲板上划出两纵横相交的直线构成一平面坐标 系,以两直线的交点O作为坐标原点10;

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