[发明专利]大功率发光二极管热阻及结温测试系统无效

专利信息
申请号: 200810037356.7 申请日: 2008-05-13
公开(公告)号: CN101266280A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 张建华;殷录桥;何晓菁;程备 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 上海上大专利事务所 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 大功率 发光二极管 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种大功率发光二极管热阻及结温测试系统和方法,包括测试线路板(1)、电源控制系统(2)、数据采集箱(3)、数据输出显示系统(4)和温度控制箱(5)。其特征在:

a.所述测试线路板(1)放置在温度控制箱(5)中,而且通过导线连接在数据采集箱(3)中;

b.所述电源控制系统(2)通过导线连接到数据采集箱(3)和所述温度控制箱(5)。

2.根据权利要求1所述的大功率发光二极管热阻及结温测试系统,测试线路板(1)具有多个串联大功率二极管的接线柱(8),且每个二极管(7)连接的接线柱(8)两端都并联一个开关(6)。

3.一种大功率发光二极管热阻及结温测试系统和方法,其特征在于测试操作步骤如下:

a)把单颗或者多颗大功率二极管采用根据权利要求1所述大功率发光二极管热阻及结温测试系统和方法连接在测试线路板(1)中,然后放入温度控制箱(5)内,并打开电源;

b)把电流调至1mA,改变温度控制箱(5)的温度,依次调节温度,从20℃、30℃到100℃,测试不同温度Tin对应的电压Vin,根据公式Kn=|Tjn-TinVjn-Vin|,]]>计算温敏参数Kn,其中,Tjn、Tin分别代表第n个器件的第j次、第i次测量时的环境温度,Vjn、Vin是对应的第n个器件的第j次、第i次测试电压,Kn代表第n个器件的温敏参数;

c)把温度控制箱(5)温度降至室温温度,然后待测器件在测试电流IM下稳定后采集测试电压VFln后,每个器件测试电流为1mA,切换到加热电流IH,加热电流每个器件为300mA,加热平衡后采集加热电流IM及加热电压VHn,然后将电流切换到测试电流从300mA到1mA的瞬间采集器件两端电压VFFn,计算加热电流工作前后二极管两端的电压变化值ΔVFn=|VFln-VFFn|;其中:ΔVFn第n个器件加热前后电压变化值,VFln为1mA电流下稳定后的电压值,VFFn为电流从加热电流迅速切换到1mA时的测试电压;

d)重复多次测量,即分别在200mA,250mA,……,500mA下测试;

e)通过下列热阻计算公式:

结温:TJn=ΔTn+TA

其中:TJn为第n个器件的结温,ΔTn=Kn×ΔVFn,ΔTn第n个器件的温度变化值,Kn为第n个器件的温敏参数,ΔVFn为第n个器件的对应温度变化的电压变化值,TA为环境温度;

热阻:Rjxn=ΔTJnPHn=Kn×ΔVFnIH×VHn]]>

其中,Rjxn为第n个器件的热阻,ΔTJn为第n个器件的温度变化量,PHn为第n个器件在大电流工作的功率,VHn分别为第n个器件加热电流IH下的电压。

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