[发明专利]用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统

说明书

技术领域

本发明涉及热电阻模拟校准系统，尤其涉及一种用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统。

技术背景

器件老化筛选车是大批量电子控制产品制作生产过程，用于对各种器件进行老化筛选的设备，使用该设备可以提高器件老化筛选的效率，保证器件老化筛选的质量，避免了人工筛选的各种缺陷。

由于器件老化筛选车的老化筛选是在不同温度条件下进行的，各个环节的温度检测是至关重要。由传感器布线和计算测量造成的误差，将严重影响温度检测精度，降低器件老化筛选的准确性。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，而提供一种用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，它可以完全校准传感器布线和计算测量造成的误差，提高温度检测精度，保证器件老化筛选的准确性。

实现上述目的的技术方案是：用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，其中，它包括DSP控制器、恒流源电路、热电阻、热电阻模拟电路、第一差分放大电路、第二差分放大电路和第三差分放大电路，所述的热电阻和热电阻模拟电路与所述的恒流源电路串联，其中：

所述的恒流源电路从电源Vcc取得电能，并根据DSP控制器提供的给定电流数值，产生流过热电阻和热电阻模拟电路的相应恒定电流；

所述的热电阻接收来自恒流源电路的输出信号，并且输出信号给热电阻模拟电路，该热电阻两端并联有所述的第一差分放大电路；

所述的热电阻模拟电路根据DSP控制器提供的给定电阻值，模拟出相应的电阻R_S，该热电阻模拟电路两端并联有所述的第二差分放大电路；

所述的第三差分放大电路的输入端分别与所述的第一差分放大电路以及第二差分放大电路的输出端相连；

所述的DSP控制器输出给定电流值给恒流源电路，并且根据标准温度输出相应的电阻值给热电阻模拟电路，该DSP控制器分别采集第一差分放大电路以及第三差分放大电路的输出信号。

上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，其中，所述的热电阻为PT100热电阻。

上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，其中，所述的热电阻模拟电路为与热电阻对应的PT100热电阻模拟电路。

上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，其中，所述的热电阻上下两端形成的电压为V₂，V₁，第一差分放大电路将热电阻上的电压进行放大，输出电压V_A＝K(V₂-V₁)，K为放大倍数，电压V_A由DSP控制器进行采样并且获得相应的温度T。

上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，其中，所述的热电阻模拟电路上下两端形成的电压为V₁，V₀，第二差分放大电路将热电阻模拟电路上的电压进行放大，输出电压V_B＝K(V_I-V_O)，K为放大倍数，第三差分放大电路的输出电压V_O＝V_A-V_B。

上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，其中，所述的DSP控制器采集第三差分放大电路的输出信号V_O后，获得对应的温度T_Δ，实测温度为T_O-T_Δ。

本发明的有益效果是：本发明由于V_A，V_B的差异在于热电阻的误差和引线的误差引起的，第三差分放大电路将这部分误差取出，然后通过DSP控制器采样第三差分放大电路的输出V_O以后自动补偿校正这部分误差。校准传感器布线和计算测量造成的误差，提高温度检测精度，保证器件老化筛选的准确性。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

请参阅图1，图中示出了本发明的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准系统，它包括DSP控制器1、恒流源电路2、热电阻3、热电阻模拟电路4、第一差分放大电路5、第二差分放大电路6和第三差分放大电路7，热电阻3和热电阻模拟电路4与恒流源电路2串联，两者流过的电流是完全一致的，其中：

恒流源电路2从电源Vcc取得电能，并根据DSP控制器1提供的给定电流数值，产生流过热电阻3和热电阻模拟电路1的相应恒定电流，电流值不超过0.75mA；