[发明专利]一种试样多点测量机构有效

专利信息
申请号: 200810033966.X 申请日: 2008-02-28
公开(公告)号: CN101520308A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: 李明义;谢恩昕;杨毅 申请(专利权)人: 上海华龙测试仪器有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 代理人: 吴泽群
地址: 201202上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 试样 多点 测量 机构
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测量机构。

背景技术

目前,试样的测量为手工操作计量器具(例如:游标卡尺)。若要多点测量,检查人员手法不同和视觉误差,会给试样的尺寸测量带来较大误差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是:提供了一种试样多点测量机构,利用多级汽缸的精确走位,移动固定在多位汽缸上的传感器,达到试样尺寸测量的多点化。精确走位的可控性,消除手工抄做和视觉带来的误差。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:

一种试样多点测量机构,其特征在于:包括左右对称设置于立板上的一组纵向滑轨,所述一组纵向滑轨上下分别设有沿纵向滑轨移动的上纵向滑块和下纵向滑块,所述上下纵向滑块由固接于立板上的两个纵向汽缸分别带动,所述上下纵向滑块上分别各装有一组对称的横向滑轨,即上横向滑轨组和下横向滑轨组,每组横向滑轨上设有三块平行的横向滑块,即左横向滑块、中横向滑块和右横向滑块,每块横向滑块上设有传感器,所述左右横向滑块由设置在所属纵向滑块上的两个横向气缸分别连接带动。

所述传感器是光栅传感器。

所述上横向滑轨组包括第一横向滑轨和第二横向滑轨,所述下横向滑轨组包括第一横向滑轨和第二横向滑轨。

由上述公开技术方案可见,本发明结构简单、使用方便,利用多级汽缸的精确走位,移动固定在多位汽缸上的传感器,达到试样尺寸测量的多点化。精确走位的可控性,消除手工抄做和视觉带来的误差。

附图说明

图1是试样多点测量机构的示意图;

图中:1a一纵向滑轨,1b一纵向滑轨,2一纵向汽缸,2’一纵向汽缸,3一纵向滑块,3’一纵向滑块,4a一横向滑轨,4b一横向滑轨,4a’一横向滑轨,4b’一横向滑轨,52一横向汽缸,53一横向汽缸,52’一横向汽缸,53’一横向汽缸,61一横向滑块,62一横向滑块,63一横向滑块,61’一横向滑块,62’一横向滑块,63’一横向滑块,71一传感器,72一传感器,73一传感器,71’一传感器,72’一传感器,73’一传感器。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式对本发明作进一步说明:

请参见图1,这种试样多点测量机构,包括左右对称设置的一组纵向滑轨1a、1b、纵向汽缸2、2’、纵向滑块3、3’,以及上下对称设置的两组横向滑轨4a、4b和横向滑轨4a’、4b’、两组横向气缸52、53和横向气缸52’、53’;所述的一组纵向滑轨1a、1b和纵向汽缸2、2’固接于立板12上,并在纵向滑轨1a、1b上下分别设有经纵向汽缸2、2’带动的纵向滑块3、3’,同时,所述纵向滑块3、3’上分别装有上下对称设置的两组横向滑轨4a、4b和横向滑轨4a’、4b’;所述横向滑轨4a、4b上设有三块横向滑块61、62、63,所述横向滑轨4a’、4b’上设有三块横向滑块61’、62’、63’;各对应的横向滑块61、62、63和横向滑块61’、62’、63’上对应设有传感器71、72、73和传感器71’、72’、73’;分设于纵向滑块3、3’的两组横向气缸52、53和横向气缸52’、53’分别与其匹配的横向滑块相连接。所述横向气缸52、53分别与横向滑块62、63连接,使得横向气缸52、53可以分别带动横向滑块62、63沿横向滑轨4a、4b左右移动。所述横向气缸52’、53’分别与横向滑块62’、63’连接,使得横向气缸52’、53’可以分别带动横向滑块62’、63’沿横向滑轨4a、4b左右移动;

所述传感器71、72、73、71’、72’、73’是光栅传感器。

该试样多点测量机构是这样使用的:

首先,基于试样的长度,通过横向汽缸52带动横向滑块62沿横向滑轨4a、4b左右滑动,横向汽缸53带动横向滑块63沿横向滑轨4a、4b左右滑动,横向汽缸52’带动横向滑块62’沿横向滑轨4a’4b’左右滑动,横向汽缸53’带动横向滑块63’沿横向滑轨4a’、4b’左右滑动,使得横向滑块61、62、63、61’、62’、63’均布在试样的上下两侧。

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