[发明专利]一种化学机械抛光液无效
申请号: | 200810033260.3 | 申请日: | 2008-01-30 |
公开(公告)号: | CN101497765A | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
发明(设计)人: | 王晨;荆建芬;杨春晓 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;H01L21/304 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203上海市浦东新区张江高科*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化学 机械抛光 | ||
1.一种化学机械抛光液,其含有研磨颗粒和水,其特征在于:其还同时含有双胍类化合物和氮唑类化合物。
2.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的双胍类化合物选自双胍、二甲双胍、苯乙双胍、吗啉胍、1,1’-己基双[5-(对氯苯基)双胍]及上述化合物的酸加成盐中的一种或多种。
3.如权利要求2所述的抛光液,其特征在于:所述的酸为盐酸、磷酸、硝酸、醋酸、葡萄糖酸或磺酸。
4.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的双胍类化合物的含量为质量百分比0.01~7%。
5.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的氮唑类化合物为三氮唑和四氮唑及其衍生物中的一种或多种。
6.如权利要求5所述的抛光液,其特征在于:所述的氮唑类化合物为1,2,4-三氮唑、3-氨基-1,2,4-三氮唑、5-羧基-3-氨基1,2,4-三氮唑和5-氨基四氮唑中的一种或多种。
7.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的氮唑类化合物的含量为质量百分比0.01~15%。
8.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的研磨颗粒选自SiO2、Al2O3、ZrO2、CeO2、SiC、Fe2O3、TiO2和Si3N4中的一种或多种。
9.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的研磨颗粒的含量为质量百分比0.1~30%。
10.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的研磨颗粒的粒径为30~120nm。
11.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于:所述的抛光液的pH范围为8~12。
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