[发明专利]用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法。

背景技术

在调试射频阻抗匹配的时候，图1是目前常用的匹配电路，理论上可以实现任意阻抗的匹配要求，其中Z1、Z2、Z3可为容抗或者感抗，两端为输入端和输出端，在3G以内可选用精密的分离器件(如陶瓷电容或者电感)来，在更高频段可用开路、短路微带线来实现阻抗匹配。由于输入和输出阻抗没有达到最佳匹配，往往需要测量系统的输入、输出阻抗(用非常昂贵的网络分析仪)，而且由于存在测量误差，以及前、后级的最佳匹配值往往难以确定(很多时候，50欧姆并非最佳匹配值)，经常需要多次试验、焊接，才能得到满意的结果。这样不但增加了焊接次数，而且容易损坏主板，造成不必要的损失。并且往往调试出来的一组匹配值，也只是符合要求的满意结果，要想得到最佳结果需要更大的工作量，浪费时间和精力。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法，该用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法可以在不用测量系统输入输出阻抗，也不用多次焊接主板的情况下，方便、快捷、准确地确定射频系统前后级的最佳匹配电路。

为达到上述目的，本发明提供一种用于调试射频匹配电路的装置，其实质性特点在于，该装置外部包括第一端口和第二端口以及至少两个调节旋钮；该装置内部包括至少两个电容和电感阵列以及至少由上述两个调节旋钮控制的三个开关，其中至少有一个开关连接一个电容和电感阵列，有两个开关连接一个电容和电感阵列。

优选地，所述开关通过传输线分别与第一端口、第二端口连接。

优选地，所述电容和电感阵列具有复数个电容和电感，所述开关具有对应上述电容和电感的控制旋钮，用以控制导通的电容和电感的数量。

本发明的另一技术方案是提供一种用于调试射频匹配电路的装置的使用方法，其包括以下步骤：先将原电路中的匹配电路去掉；再将装置第一端口、第二端口用传输线连接到需要调系统试的输入、输出；启动要调试的系统，使其正常工作，根据需要调试的指标用相应的测试仪器连接要调试的系统；调节调节旋钮控制开关来改变内部电容和电感阵列中的电容和电感值，并观察仪器的测量值，直至调试指标达到最佳值；读得装置中所指示的接入电路电容值和电感值，即为需要的匹配值，并取下本发明装置；根据读得的电容值和电感值焊接实际器件到电路上，验证调试结果。

优选地，所述测试仪器为能量测量功率仪器。

优选地，所述测试仪器为电流测试仪器。

本发明由于采用了上述的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：本发明用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法最大优势是不需要多次焊接匹配电路，可以在在不用测量系统输入输出阻抗，能很快确定理想的匹配电路。

附图说明

图1为现有的射频匹配电路结构示意图；

图2为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的外部结构示意图；

图3为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的内部结构示意图；

图4为本发明用于调试射频匹配电路的装置另一实施方式的外部结构示意图；

图5为本发明用于调试射频匹配电路的装置另一实施方式的内部结构示意图；

图6为使用本发明装置的流程图。

具体实施方式

下面通过具体实施例并结合附图对本发明做进一步地描述。

图2为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的外部结构示意图；图3为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的内部结构示意图。本发明用于调试射频匹配电路的装置外部包括第一端口1和第二端口2以及第一调节旋钮T1、第二调节旋钮T2，该装置内部包括第一电容和电感阵列Z11、第二电容和电感阵列Z12以及由第一调节旋钮T1控制的第一开关S1，由第二调节旋钮T2控制的第二开关S2、第三开关S3。第一开关S1为控制内部第一电容和电感阵列Z11的开关；第二开关S2、第三开关S3为控制第二电容和电感阵列Z12接法的开关，每一电容和电感阵列Z11、Z12具有复数个电容C11、C12...C1N和电感L11、L12...L1N。每一开关S1、S2、S3具有对应上述电容C11、C12...C1N和电感L11、L12...L1N的控制旋钮1、2...2n，根据开关所处位置的不同，导通的电容和电感的数目不同，相应的外部测量值亦不同。第一开关S1与第一电容和电感阵列Z11连接，第二开关S2、第三开关S3分别连接第二电容和电感阵列Z12两端，第一开关S1、第二开关S2通过一传输线L与第一端口1连接，第三开关S3通过另一传输线L与第二端口2连接。