[发明专利]一种电子元器件自动测试转盘

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子元器件自动测试转盘。

背景技术

随着社会的发展，科技的进步，现代工业技术更是显现出了势不可挡的发展势头，特别是电子行业，电子产品在生活和工作上的运用日益广泛，需求量越来越大，为应对产品的高需要量，在保证产品质量的同时必须加快提高产品的生产速率，以满足广大客户的使用需求，为保证产品的质量，所生产出来的电子元器件必须通过一道测试程序，把不合格产品滤去，此测试过程为产品质量把关，因此是重要环节，但如果测试花去太多时间，就会影响效率，加长了生产周期，要提高生产速率就必须提高产品生产和产品测试过程的自动化和智能化程度，而在现有技术中，对电子元器件自动测试的效率难于满足要求，现有技术多是采用“点对点”的测试方式，即是将一个生产出来的产品放在指定的测试点进行测试，测试完毕之后将其取出，再放另一个产品到该测试点进行测试，这种测试方式速度慢，测试时间长，严重拖慢了生产节奏，不利于缩短产品的生产周期，因此，电子元器件的测试技术需要有新的突破。很多生产厂商也为此不断尝试开发新技术，试图解决此问题，从而提高其经济效益。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能够有效提高对电子元器件的测试速率和缩短电子元器件生产周期的电子元器件自动测试转盘。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括转盘体、传动轴、电机，所述转盘体的中心部位设置有轴孔，四周设置有至少二个测试夹具，所述测试夹具的上下方对应位置设置有上测试位、下测试位，所述上测试位与下测试位视为一组测试位，根据需要可以在其他测试夹具的对应位置设置多组测试位，使得多组测试位对电子产品进行不同的测试，亦可以按要求关闭其中的某组或某几组测试位；所述传动轴的上轴端与所述转盘体的轴孔固定配合，所述传动轴的下轴端与所述电机的输出轴固定配合，由所述电机控制所述转盘体的转动，使装夹在所述测试夹具的产品定在所需位置，接受所述上测试位与所述下测试位的测试；

本发明还包括上轴承、轴筒、下轴承、垫圈，所述上轴承、所述下轴承及所述垫圈依次与所述传动轴配合并置于所述轴筒的内部，本发明的底部还设置有支撑装置，所述支撑装置包括支撑板和支脚，所述轴筒与所述支撑板的上端面相配合，所述支撑板的下端面与所述支脚的上端面相配合，所述支脚固定于工作台上。

本发明的有益效果是：本发明中的电机控制转盘体作圆周动作，测试位可对放置在测试夹具的产品进行不间断测试，从而在保证测试质量的前提下有效提高了测试速度、优化生产节奏、缩短生产周期。因此，本发明解决了技术问题，达到技术目的。

附图说明

图1是本发明的爆炸示意图；

图2是本发明的装配示意图；

图3是本发明在自动测试装置中的位置示意图；

具体实施方式

如图1～3所示，本发明包括转盘体2、传动轴3、电机9，所述转盘体2的中心部位设置有轴孔10，四周设置有至少二个测试夹具1，所述测试夹具1的上下方对应位置设置有上测试位13、下测试位12，所述上测试位13与下测试位12视为一组测试位，根据需要可以在其他测试夹具的对应位置设置多组测试位，使得多组测试位可以同时对电子产品进行不同的测试，亦可以按要求关闭其中的某组或某几组测试位；所述传动轴3的上轴端与所述转盘体2的轴孔10固定配合，所述传动轴3的下轴端与所述电机9的输出轴固定配合，由所述电机9控制所述转盘体2的转动，使装夹在所述测试夹具1的产品定在所需位置，接受所述上测试位13与所述下测试位12的测试；

本发明还包括上轴承4、轴筒5、下轴承6、垫圈7，所述上轴承4、所述下轴承6及所述垫圈7依次与所述传动轴3配合并置于所述轴筒5的内部，本发明的底部还设置有支撑装置，所述支撑装置包括支撑板8和支脚11，所述轴筒5与所述支撑板8的上端面相配合，所述支撑板8的下端面与所述支脚11的上端面相配合，所述支脚11固定于工作台上。本发明可广泛应用于电子元器件测试领域。