[发明专利]检测用面板与彩色滤光片之检验方法

说明书

技术领域

本发明主要涉及一种彩色滤光片(Color Filter；CF)之检验方法， 尤其是指一种应用于液晶显示器(Liquid Crystal Display；LCD)之检测 用面板及彩色滤光片之检验方法；主要系藉由基板(Liquid Crystal Mask)，以进行巨观瑕疵(Macro Defect)之检验。

背景技术

随着平面显示器技术之演进，液晶显示器已逐渐取代传统的阴极射线管 显示器(Cathode Ray Tube；CRT)，而大量地使用在电视、电脑监视器、 行动电话、车用萤幕与数位相框等等。同时，对于液晶显示器，其面板的品 质要求，也愈益严苛；

其中，在面板成品/半成品(Cell)的后段检验中，时常会发现由待检 测彩色滤光片10不均匀所造成色不均(Mura)现象；(如图1所示)常见 的色不均现象，又可分为云状色不均(Cloud Mura)与线状色不均(Line Mura)等各式各样的瑕疵，此类瑕疵由于会严重影响使用者的视觉感受，故 为判别液晶显示器品质的重要依据。

目前彩色滤光片业界所开发出来的光阻涂饰后、显影前之相关检查机 制，例如：Sampling Na Macro、Auto-Thickness Measure与Virtual Image Check等等，仅侷限于检验出显影前的巨观瑕疵，对于显影后至彩色 滤光片出货前，其终端巨观瑕疵检验，并无法提供有效的帮助。

目前彩色滤光片业界系采用透过光，进行终端巨观瑕疵检验，(请参阅 图2)其中，待检测彩色滤光片10系座落在光源16与检验者18之间，其 上配置有红色光阻100、绿色光阻102、蓝色光阻104与黑色矩阵106等各 式光阻；检验者18系藉由目视的方式，观察光源16自待检测彩色滤光片 10后方所穿透的光线，检验是否有巨观瑕疵的问题；然而，在待检测彩色 滤光片的制造过程中，要对显影后之成品/半成品，进行色不均之信赖性检 验，要透过单独地透过肉眼判定，是非常困难的，因此，上述的检验，仍然 无法有效地检验出巨观瑕疵。

另外，过去在彩色滤光片为小片出货时，虽然会利用遮罩检验(Mask View)的方式，确认R/G/B三个颜色是否有色不均的现象，成效也相当良 好。但是到了整片(Full Sheet)出货以及负型树脂黑色矩阵导入以后，由 于治具制作与处理上的困难，便无法再应用了，以致于造成出货时的巨观瑕 疵检出能力低落。

传统遮罩检验之遮罩，其制作乃采用负型光阻R/G/B遮罩，转移到正型 光阻Cr黑色矩阵，以进行曝光、显影与蚀刻之制程，所得到之成品如第3A 图所示。遮罩11具有遮光区域110与透光区域112，彼此间隔排列，其工 作原理(请参图3B)，

遮罩11配置在光源16与待检测彩色滤光片10之间，其遮光区域110 对应于待检测彩色滤光片10之红色光阻100与蓝色光阻104，透光区域112 则对应于绿色光阻102；如此，透过遮罩11与待检测彩色滤光片10之作 用，便可将光源16所发射出的白光转换为绿光，检验者18便可根据所过滤 后绿光状况，即单一绿色画面，以便于检验巨观瑕疵，判断是否有绿色之 色不均问题。

同理，如欲检验红色或蓝色画面时，只需将待检测彩色滤光片10或遮 罩11，作左右一个次画素的位移即可，使得透光区域112得以分别对应至 红色光阻100或蓝色光阻104。在完成R/G/B单色画面的检验后，即可对色 不均的巨观瑕疵，作出综合性的判断。

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种检测用面板与彩色滤光片之检验方法， 以达到其提升该待检测彩色滤光片，其巨观瑕疵之检出能力。

为了达到上述目的，本发明所采取的技术方案为，提供一种检测用面 板，其包含：一液晶层，夹于上下两片玻璃基板之间、复数个氧化铟锡电极 与复数个次画素，阵列配置于该基板上，该次画素小于一待检测彩色滤光片 之次画素、以及、一具有白色光源，配置于该基板之另一侧；

其较佳者，该检测用面板包含一遮光区域与一透光区域，该遮光区域与 该透光区域之面积比相当于2∶1；

其较佳者，本发明所提出之检测用面板，其中，该待检测彩色滤光片， 其具有一第一光阻与一第二光阻，该次画素小于该第一光阻或该第二光阻；

其较佳者，该第一光阻或该第二光阻为一红色光阻、一绿色光阻、一蓝 色光阻、一黑色矩阵或其组合。