[发明专利]边界扫描芯片故障检测装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及到一种故障检测装置及方法，特别是涉及到一种边界扫描芯片故障检测装置及方法。

背景技术

对电路板上故障的检测，通常是采用探针、针床等传统检测设备进行测试。随着集成电路的发展进入超大规模集成电路时代，电路板的高度复杂性以及多层印制板、表面封装(SMT)、球栅阵列(BGA)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的适用，使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至消失，电路和系统的可测试性急剧下降。由于电路板的集成度越来越大，可供测试的结点间距离越来越小，有的甚至完全成为隐性结点，在这种情况下，如果只采用探针、针床等传统测试设备进行芯片故障测试就存在很多弊端，甚至无法进行有效测试。首先是芯片引脚间距越来越小，探针伸上去比较困难，如果一定要将探针伸上去还有可能损伤芯片本身；其次有的芯片引脚已经成为隐性结点，根本无法使用探针，比如BGA封装的芯片和MCM芯片等。这不但使测试成本在电路和系统总开销中所占比例不断上升，测试周期加长，而且仍然有很多不可测的情况存在，因此常规测试方法正面临着日趋严重的测试困难。

针对这种情况，电子测试的研究方向也从接触式测试、测试针床、测试分析仪器等传统测试方法发展到了研究在电子系统甚至芯片设计时就考虑系统测试问题的新兴设计方法-DFT，通过它来解决现代系统的测试问题。作为可测试性设计的结构化设计方法，主要有以下几种：扫描通路法、随机存取扫描法、扫描置入法、边界扫描(Boundary Scan)等。而边界扫描就是其中一种重要的有效的测试方法。

发明内容

本发明的目的是提出了一种方便故障定位、提高主板维修效率的边界扫描芯片故障检测装置及方法，解决了检测困难、故障定位不准的问题。

为了达到上述目的，本发明提出了一种边界扫描芯片故障检测方法，利用应用程序连接到被测芯片的测试接口，对被测芯片进行全面检测；

本方法的具体步骤为：

a.向被测芯片发送一测试向量；

b.接收并分析被测芯片的反馈信息；

c.显示通过分析反馈信息得出的检测结果。

该步骤a、b中还各包括一接口信号转换步骤；在步骤a中包括一应用程序端信号转换步骤，将应用程序端信号转换为测试接口信号；该步骤b中也包括一接口信号转换步骤，将测试接口信号转换为应用程序端信号。

本发明方法主要通过对被测芯片发送测试向量，获取被测芯片的反馈信息，然后对反馈信息进行分析诊断，利用相关信息文件定位故障点，并显示检测结果；解决了检测困难、故障定位不准的问题，提高工作效率。

本发明还提出了一种边界扫描芯片故障检测装置，利用应用程序连接到被测芯片的测试接口，对被测芯片进行全面检测；

本装置包括：

一应用程序模块，设置有一向量发送单元，可向该被测芯片发送测试向量，对该被测主板进行检测；一接收及分析反馈信息单元，接收被测芯片的反馈信息，并通过分析该反馈信息得出检测结果；

一显示模块，显示该通过该应用程序模块分析反馈信息所得出的对被测芯片的检测结果。

该装置还设置有一转换模块，实现该应用程序模块信号与被测芯片的测试接口信号间的相互转换；该转换模块设有一应用程序模块信号转换单元，将应用程序端信号转换为测试接口信号；该转换模块设有一测试接口信号转换单元，将测试接口信号转换为应用程序端信号。

本发明装置主要通过用户操作应用程序模块，来控制转换模块完成对测试向量的读和写；转换模块接口驱动信号，驱动被测芯片的测试总线；使得被测芯片反馈回信息，通过转换模块传送到应用程序模块，然后由应用程序模块对反馈进行分析诊断并利用相关信息文件定位故障点，得出检测结果，通过显示模块显示出来；解决了检测困难、故障定位不准的问题，提高工作效率。

本发明另提出了一种信号的转换方法，实现应用程序端信号及被测芯片测试接口信号间的相互转换：

此种方法的具体步骤为：

A.查询接收第一端口信号；

B.判断信号类型，并调用相应函数；此步骤，先判定信号是否为读信号；然后，再判定该读信号或非读信号是否为指令信号；再分别调用相应函数进行操作；

C.写第二端口；此步骤包括写所读到的数据到第二端口及写第二端口返回。

本信号转换方法，利用该转换模块对测试向量的读写，可实现应用程序模块与被测芯片测试接口之间的通讯，使得测试顺利进行，提高工作效率。

附图说明

图1为本发明边界扫描芯片故障检测方法的流程示意图。