[发明专利]用于WCDMA系统同频多小区下行的参数测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种参数测量方法，特别涉及一种用于WCDMA系统同频多 小区下行的参数测量方法。

背景技术

移动通信系统中，用户设备在同步之后，需要对当前驻留小区的 PCPICH信道的Ec/Io进行测量。Ec表示PCPICH信道的码片能量，Io代表 接收端信号总的功率谱密度。

下行公共导频信道PCPICH是由周期为38400chip长码(long code)构 成。long code通过图1的两个18阶的移位寄存器生成的M序列构成截断 的GOLD序列。

根据上述PCPICH信道的特点，现有的PCPICH信道Ec/Io的测量方法 如下：

步骤一、用扰码对一帧数据进行对准相关，相关值的模平方除以38400 即为Ec；

步骤二、对一帧数据的模平方进行累加得到Io；

步骤三、PCPICH信道的Ec/Io即为10×log10(Ec/Io)dB。

现有的PCPICH信道Ec/Io的测量方法适用于无频偏或者频偏很小的 情况。在单小区的情况下，用户设备可以通过同步前的频率捕获和同步后 的频率捕获，减小其与基站之间的频率偏差，所以PCPICH信道Ec/Io的 测量方法还能适用。但是在同频多小区的情况下，下行接收机与基站之间 以及基站与基站之间都存在着较大的频率偏差，根据标准最大可达± 200Hz，这种情况下现有的PCPICH信道Ec/Io的测量方法则不能准确地进 行测量。

发明内容

本发明为了克服以上现有技术存在的不足，提供了一种能适用频率偏 差大、测量准确度高的用于WCDMA系统同频多小区下行的参数测量方法。

本发明的目的通过以下的技术方案实现：本用于WCDMA系统同频多小 区下行的参数测量方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤一：对待测量集依次循环下述过程，循环因子i＝1～N，N为待测 量集的元素个数，依次得到Ec，i和Io，i：

(1)WCDMA基站在PCPICH上发送的数据为其使用的扰码SC与+1/-1 的乘积，扰码SC以帧为周期，在解扰模块进行解扰之后，PCPICH承载的 是频率为频偏的单音信号，用待测量集第i个元素生成相应的扰码SC，并 对一帧数据进行解扰，得到Dsc，i＝<dsci1，dsci2，…，dsci38400>；

(2)在按窗长累加模块，按照窗长W对Dsc，i进行累加，得到 Asc，i＝<asci1，asci2，…，asci38400/W>，·表示向下取整，窗长W的 取值取决于频偏的大小；

(3)在补零模块，根据快速傅立叶变换的点数L对Asc，i进行补零 得到Zsc，i＝<zsci1，zsci2，…，zsciL>＝<asci1，asci2，…，asci38400/W， zero1，zero2，…，zero(L-38400/W)>；

(4)在FFT模块，对Zsc，i进行快速傅立叶变换FFT得到Fsc，i＝<fsci1， fsci2，…，fsciL>；

(5)在取模平方模块，取Fsc，i的模平方得到Psc，i＝<psci1， psci2，…，psciL>；

(6)在搜索最大值模块，搜索Psc，i中的最大值，得到Ec，i；

(7)在累加模块，对Psc，i中所有的元素进行累加得到Io，i；

步骤二：根据步骤一得到的Ec，i和Io，i，计算Ec，j/Io：

(1)在按基站合并模块，对属于同一个扰码SC的Ec，i进行合并得到 各个基站的Ec，j，其中j＝1～M，M≤N；

(2)在根据待测量集累加模块，对所有的Io，i进行累加得到Io， Io=Σi=1NIo,i;]]>