[发明专利]基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法有效
| 申请号: | 200810023628.8 | 申请日: | 2008-04-09 | 
| 公开(公告)号: | CN101261224A | 公开(公告)日: | 2008-09-10 | 
| 发明(设计)人: | 宋瑛林;李云波;王煜;杨俊义;王玉晓 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 | 
| 主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45 | 
| 代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陶海锋 | 
| 地址: | 215123江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 相位 相干 成像 系统 测量 材料 光学 非线性 方法 | ||
1.一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法,4f相位相干成像系统通过分束镜将入射激光分成两束,一束为探测光进入测量光路,通过4f系统后用CCD相机采集;另一路为参考光;样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面,其特征在于:所述参考光的光路是4f系统,且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行,并采用同一个CCD相机采集;其测量步骤为:
1)能量定标,取走样品,将校准的能量计放置在样品的位置,并使激光光斑能够全部打到能量计探测头上,然后发射一个激光脉冲,用能量计测量脉冲的能量,同时用CCD相机采集到参考光路得到的参考光斑;
2)测量拟合,取走能量计,把待测样品放在测量系统的傅里叶平面上,再入射一个脉冲光,在CCD上将得到两个光斑:入射光经过主光路打过样品后在CCD上获得非线性光斑和经过参考光路后得到的参考光斑,根据获得的非线性光斑和参考光斑进行数值拟合得到待测样品的非线性折射率,拟合中通过对参考光斑的计算得到测量过程中入射到待测样品上的激光脉冲的能量,利用参考光斑上的光强分布作为入射光光强分布。
2.根据权利要求1所述的基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法,其特征在于:所述分束镜的透过率和反射率各为50%。
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