[发明专利]高精度电路的内建永久性电阻自动校准方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种高精度电路的内建永久性电阻自动校准方法。

背景技术

普通的电阻在制成后，精度不是很高，具有较大的偏差值，而在高精度的芯片电路中，这些偏差值对芯片的精度影响就显得较大，因此需要校准。现有技术中，用于高精度电路的内建永久性电阻的校准方法主要有：激光校准方法、传统的电流熔断内部熔断条技术和传统的自我校正方法。然而这些校准方法分别具有以下的缺点：

激光校准方法成本高，而且只能在封装前完成，但是封装后的芯片参数有可能会发生变化，这样校准就不是十分准确。

传统的电流熔断内部熔断条技术需要在芯片上设计大的测试和烧熔端金属接触点，增加芯片面积和成本，同时增加测试设备复杂性。

传统的自我校正电路需要在芯片外增加一个精准电阻，这将增加应用系统的制造成本和复杂度，同时芯片本身也会浪费一个管脚，这对小型低管脚数芯片无疑会增加生产和封装成本。

发明内容

本发明的目的是提供一种高精度电路的内建永久性电阻自动校准方法，采用自动校准和管脚重用相结合的技术，以简单和低成本的方式获得高精度的电路，有效降低芯片对工艺的依赖，提高产品质量和成品率。

本发明的技术方案是：一种高精度电路的内建永久性电阻自动校准方法，包括以下步骤：

(1)测试开始后，将待测芯片的PIN脚连接外部精准电阻，待测芯片测量并保存精准电阻的测量值一；

(2)得到测量值一后，待测芯片将待校准的电阻串连接入测量电路，测量得到测量值二；

(3)待测芯片将测量值一和测量值二进行自动比较，当二者的值不相等时，自动修正电阻串的值，重新测量得到测量值二并比较，直到测量值一和测量值二相等；

(4)待测芯片针对此时的电阻串的值来对待测芯片内部的熔断条阵列进行相应的熔断操作，使得自动校准后的电阻串的值永久记忆在熔断条阵列中；

(5)将精准电阻从待测芯片的PIN脚断开，使得PIN脚还可以继续连接其它外部输入/输出电路，自动校准完毕。

本发明进一步的技术方案是：一种高精度电路的内建永久性电阻自动校准方法，包括以下步骤：

(1)测试开始后，将待测芯片的PIN脚连接外部精准电阻，待测芯片测量并保存精准电阻的测量值一；

(2)得到测量值一后，待测芯片将待校准的电阻串连接入测量电路，测量得到测量值二；

(3)待测芯片将测量值一和测量值二进行自动比较，当二者的值不相等时，自动修正电阻串的值，重新测量得到测量值二并比较，直到测量值一和测量值二相等；

(4)待测芯片针对此时的电阻串的值来对待测芯片内部的熔断条阵列进行相应的熔断操作，使得自动校准后的电阻串的值永久记忆在熔断条阵列中；

(5)将精准电阻从待测芯片的PIN脚断开，使得PIN脚还可以继续连接其它外部输入/输出电路，自动校准完毕。

所述PIN脚在待测芯片内部连接有一开关，所述开关在进行电阻串自动校准时与自动校准电路连通，自动校准后开关与内部输入/输出电路连通。

所述测量值一为待测芯片内部的恒流源连接到精准电阻后PIN脚上的电压值，其被采样并保持；所述测量值二为所述恒流源连接到电阻串后电阻串的电压值。

本发明优点是：

1.采用本发明，可以避免传统技术中的高成本和高复杂度的缺陷，以简单和低成本的方式获得高精度的电路，有效降低芯片对工艺的依赖，提高产品质量和成品率。

2.本发明独特的自动校准和管脚重用相结合的技术保证了对用户的透明性，简化了用户设计的要求。

3.本发明所使用的精准电阻为外部电阻，在测试时对每个芯片使用一次并可连续使用于不同批次的晶圆，保证了产品性能的一致性。

4.由于测试中的精准电阻可以采用不同的阻值，该方法有很大的灵活性，可以在封装测试时将同一个设计校准成适应于不同工作范围的产品，从而丰富了产品的系列化种类和应用范围。

附图说明

图1为本发明的流程图；

图2为本发明实施例的系统框图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述：

实施例：如图1所示，一种高精度电路的内建永久性电阻自动校准方法，包括以下步骤：

(1)测试开始后，将待测芯片的PIN脚连接外部精准电阻，待测芯片测量并保存精准电阻的测量值一；

(2)得到测量值一后，待测芯片将待校准的电阻串连接入测量电路，测量得到测量值二；