[发明专利]一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法无效

专利信息
申请号: 200810017733.0 申请日: 2008-03-17
公开(公告)号: CN101254104A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 廖琪梅;曹军;张星;涂晓丽 申请(专利权)人: 中国人民解放军第四军医大学
主分类号: A61B5/107 分类号: A61B5/107;A61B6/00;A61B19/00
代理公司: 西安慈源有限责任专利事务所 代理人: 潘宪曾;鲍燕平
地址: 710032*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 头颅 测量 颌骨 结构 关系 尺寸 方法
【权利要求书】:

1. 一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:它至少包括以下步骤:获取的头颅片显示在显示器上、在显示器的头颅片上依次建立需要的点、线,通过获取点到线、点到点、线到线的距离实现头颅片上颅颌骨结构关系或尺寸。

2. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的头颅片上一个点的建立步骤是:通过移动鼠标光标到指定的点,点击鼠标中的一个键,将点放置在鼠标当前光标的位置。

3. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的头颅片上一条线的建立步骤是:通过鼠标点击上述建立的任意两个点,两点之间的这条直线就会显示在头颅片上。

4. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的头颅片上的一个点到一条直线的垂线距离的产生步骤是:用鼠标点击激活图像中的任意直线,然后用鼠标从任意一点向这条直线拖动,产生经过该点、到激活直线的垂线。

5. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的获取头颅片上两点间距离的步骤是:以鼠标分别点击至两个点,将这两点间的距离显示在测量结果区域。

6. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的获取头颅片上的一个点到一条直线距离的步骤是:以鼠标点击一个点,确定这个点,再以鼠标点击一条直线上的任意两点、以确定这条直线,将这个点到这条直线的距离显示在测量结果区域。

7. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的获取头颅片上两条直线交角角度距离的步骤是:以鼠标点击直线上任意两点的方法,确定这两条直线,将这两条直线的交角角度值显示在测量结果区域。

8. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的获取头颅片上一个角度的步骤是:直接点击一个角的顶点和两条边上的各任意一点,即可确定这个角,将这个角角度大小直接显示在测量结果区域。

9. 根据权利要求1所述的一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法,其特征是:所述的一个点的大小、颜色、位置通过输入设备进行修改。

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