[发明专利]光拾取装置

权利要求书

1.一种光拾取装置，其特征在于，

具有：激光光源；将来自所述激光光源的激光会聚在多层光信息记录介质的一个记录层上的照射光会聚光学系统；以及对从所述多层光信息记录介质的所述记录层反射的反射光进行检测的检测光学系统，

所述检测光学系统包含：反射光会聚透镜，其聚集来自所述记录层的反射光；反射面，其被设置在由所述反射光会聚透镜聚集的所述反射光中的来自该记录层的反射光的最小光斑位置上；光栅元件，其在所述反射光会聚透镜和所述反射面之间包含光轴地设置，使来自目标层以外相邻层的反射光的光量衰减，或者改变该反射光的方向；以及光检测器，其检测所述反射光，

在所述光检测器上检测由所述发射面反射的反射光。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光栅元件与至少一个来自所述相邻层的反射光通过所述反射光会聚透镜的最小光斑位置重叠，并且对于光轴垂直或者倾斜地设置光栅沟槽的方向。

3.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光栅元件的光栅在光轴方向上离开所述反射面地设置。

4.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光栅元件具有使0次光的光量减少的光栅沟槽深度。

5.根据权利要求4所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光栅元件的光栅是三角波形状，沟槽深度为0.5λ以上。

6.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光栅元件具有使±1次光的光不返回所述反射光会聚透镜的光栅间距。

7.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

所述照射光会聚光学系统具有将来自所述激光光源的激光分割为主光线和两条副光线的功能，配置所述光栅元件使其与至少一个来自所述相邻层的反射光通过所述反射光会聚透镜的最小光斑位置重叠，并且包含所述反射光会聚透镜的光轴和所述两条副光线的主光线。

8.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

所述光栅元件具有：第一透明基板，其在表面具有由反射所述激光的材料或吸收所述激光的材料覆盖的光栅；第二透明基板，其具有与所述第一透明基板相同的折射率，并且配置在形成所述第一透明基板的所述光栅的一侧；以及具有与所述第一以及第二透明基板相同的折射率的、填充在所述第一和第二透明基板之间的材料。

9.根据权利要求8所述的光拾取装置，其特征在于，

与光轴交叉的所述光栅元件的表面是对于光轴垂直的平面。

10.根据权利要求9所述的光拾取装置，其特征在于，

在所述光栅元件的与所述光轴垂直的面中，在光射入一侧的面上形成有防反射膜。

11.根据权利要求10所述的光拾取装置，其特征在于，

在所述光栅元件的与所述光轴垂直的面中，远离所述反射光会聚透镜的面为所述反射面。