[发明专利]驱动器及使用它的显示方法无效
申请号: | 200810004859.4 | 申请日: | 2008-02-05 |
公开(公告)号: | CN101266741A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 松原宏行;高桥弘行;折田伸之;冈本利治;势能修一 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;G09G3/36;G09G5/00;G09G5/36;G02F1/133 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 关兆辉;陆锦华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 驱动器 使用 显示 方法 | ||
1.一种驱动器,包括:
第一存储器,其包括多个存储单元和冗余存储单元;
地址控制电路,其被配置以根据指示有缺陷的存储单元的地址的缺陷地址数据,用所述冗余存储单元之一取代所述多个存储单元中有缺陷的存储单元;
驱动电路,其被配置以根据指定了显示面板显示质量的显示质量指定数据,在显示面板上显示存储在所述第一存储器中的显示数据;和
第二存储器,其中存储所述显示质量指定数据和所述缺陷地址数据。
2.根据权利要求1所述的驱动器,进一步包括程序控制电路,
其中,所述第二存储器具有显示质量指定数据存储部和缺陷地址数据存储部,且
所述程序控制电路将所述显示质量指定数据存储在所述显示质量指定数据存储部中,且
当测试所述多个存储单元,且所述多个存储单元中的至少一个是有缺陷的存储单元时,所述程序控制电路将所述缺陷地址数据存储在所述缺陷地址数据存储部中。
3.根据权利要求2所述的驱动器,其中,所述第二存储器包括作为非易失性存储器的闪存存储器、EPROM(可擦除可编程ROM(只读存储器))、和EEPROM(可电擦除可编程ROM)中的任意一种。
4.根据权利要求2所述的驱动器,其中,所述第二存储器包括作为非易失性存储器的至少一个电熔丝组。
5.根据权利要求4所述的驱动器,其中,所述显示质量指定数据存储部和所述缺陷地址数据存储部的每一个都包含所述电熔丝组,且
所述程序控制电路向在所述显示质量指定数据存储部的所述电熔丝组中将要被切断的电熔丝提供电流,以将所述显示质量指定数据存储在所述显示质量指定数据存储部中,并向在所述缺陷地址数据存储部的所述电熔丝组中将要被切断的电熔丝提供电流,以将所述缺陷地址数据存储在所述缺陷地址数据存储部中。
6.根据权利要求2到5中任意一个所述的驱动器,进一步包括:
BIST电路,其被配置以测试所述多个存储单元的每一个,并当所述多个存储单元中的至少一个是有缺陷的存储单元时,向所述程序控制电路输出所述缺陷地址数据。
7.根据权利要求6所述的驱动器,进一步包括:
电源开启监视电路,其被配置以监视电源,并当检测到来自所述电源的电源电压时,向所述BIST电路输出电源开启信号,且
其中所述BIST电路响应于所述电源开启信号而开始所述测试。
8.根据权利要求2到5中任意一个所述的驱动器,其中,基于所述显示质量指定数据所指定的显示质量是可由用户改变的;以及
所述程序控制电路持有对所述显示质量指定数据存储部的访问权,当由用户给出包含显示质量变化数据和命令的指令,且所述命令与所持有的访问权彼此一致时,访问所述显示质量指定数据存储部,以根据所述显示质量变化数据来改变所述显示质量指定数据。
9.根据权利要求2所述的驱动器,其中,所述显示质量指定数据包含关于面板制造商的第一显示质量指定数据和关于制造所述驱动器的显示器件制造商的第二显示质量指定数据,
所述显示质量指定数据存储部包括:第一显示质量指定数据存储部和第二显示质量指定数据存储部,其中,在所述第一显示质量指定数据存储部中存储了所述第一显示质量指定数据,在所述第二显示质量指定数据存储部中存储了所述第二显示质量指定数据。
10.根据权利要求9所述的驱动器,进一步包括:
电源开启监视电路,其被配置以监视电源,并当检测到来自所述电源的电源电压时输出电源开启信号,
所述程序控制电路包括:
排序器,其被配置以响应于电源开启信号向所述第二存储器输出第一到第三读取信号;
由所述驱动电路所指向的面板寄存器和显示器件寄存器;和
由所述地址控制电路所指向的缺陷地址寄存器,且
所述第二存储器进一步包括:
读出放大器,其被配置以响应于所述第一到第三读取信号,从所述第一和第二显示质量指定数据存储部和所述缺陷地址数据存储部读出所述第一和第二显示质量指定数据和所述缺陷地址数据,以分别存储在所述面板寄存器、所述显示器件寄存器和所述缺陷地址寄存器中。
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