[发明专利]具有温度补偿的样品浓度检测器

权利要求书

1.一种光声痕量气体检测器(200)，用于检测样品混合物中样品的浓度，所述光声痕量气体检测器(200)包括：

-光源(101)，用于产生光束(113)以激发所述样品的分子，

-光调制器(102)，用于调制所述光束(113)以改变受激分子的数量并因此产生所述样品混合物中的压力变化，

-检测器元件，用于检测所述样品的受激分子的数量，所述检测器元件包括用于将所述压力变化转换为指示所述数量的检测器电流的压力传感器，

-处理部件(106)，耦合至所述检测器元件(103)并用于处理所述检测器电流以生成表示所述浓度的输出信号(109)，所述处理部件(106)包括温度补偿模块(112)，该温度补偿模块(112)被配置为针对所述光源(101)的温度相关的波长漂移，基于所述光源(101)的除输出波长以外的温度相关的参数的至少一个测量值来校正所述输出信号(109)，以及

-参数测量装置，用于获得所述至少一个测量值。

2.根据权利要求1所述的光声痕量气体检测器(200)，其中所述至少一个测量值是所述光源(101)的光输出功率，并且其中所述参数测量装置包括用于所述光输出功率的直接测量的内部光电二极管(110)。

3.根据权利要求1所述的光声痕量气体检测器(200)，其中所述光源是半导体激光二极管，并且所述至少一个测量值是流过所述半导体激光二极管的阈值正向电流，当小于该阈值电流时，所述光输出功率为0，当大于该阈值电流时，所述光输出功率增加。

4.根据权利要求1所述的光声痕量气体检测器(200)，其中所述光源是半导体激光二极管，并且所述至少一个测量值是所述半导体激光二极管的正向电压。

5.根据权利要求2所述的光声痕量气体检测器(200)，其中所述温度补偿模块(112)使用来自校准测量的校准系数，其中使用所述样品的已知的校准浓度和所述光源(101)的已知的校准驱动电流来测量不同温度下的所述光输出功率和所述检测器电流。

6.根据权利要求5所述的光声痕量气体检测器(200)，其中所述温度补偿模块(112)使用以下公式：

[S]=[S]ref×PAPAref×C(P),]]>

其中，[S]为所述样品的所述浓度，[S]_ref为所述已知的校准浓度，PA为所述检测器电流，PA_ref为所述校准测量期间的检测器电流，以及C(P)为所述样品测量期间与所述光输出功率P相对应的校准系数，

PA_ref由所述校准测量导出。

7.根据权利要求4所述的光声痕量气体检测器(200)，其中所述温度补偿模块(112)使用来自校准测量的校准系数，其中使用所述样品的已知的校准浓度和所述光源(101)的已知的校准驱动电流来测量不同温度下的所述正向电压和所述检测器电流。