[发明专利]能够对主轴托架进行热变形检测的包括活动支座、主轴托架和主轴的机床的移动组

权利要求书

1.一种机床的移动组，包括：

-活动支座(4)，所述活动支座(4)能够与固定导轨(2)相关联，从而能够沿着所述固定导轨的纵向方向移动；

-主轴托架(6)，所述主轴托架(6)能够沿着垂直于所述纵向方向的轴向方向移动、并且具有通过主轴托架开口而开口于其前表面上的内部主轴托架空间，

-主轴(8)，所述主轴(8)至少部分地安置在所述主轴托架空间中并得到支承以绕着旋转轴线旋转，所述主轴操作性地连接至所述主轴托架，以便在缩回位置与适于执行加工的伸出位置之间沿着所述轴向方向移位，在所述伸出位置中，与处于所述缩回位置时相比，所述主轴通过所述主轴托架开口在前部处从所述主轴托架突出得更多；

-第一测量装置，所述第一测量装置适于在位于所述主轴托架上的固定基准位置与相对于所述主轴托架移动且与所述主轴一体移位的移动基准之间测量所述主轴相对于所述主轴托架的轴向进给；

-第二测量装置，所述第二测量装置适于在位于所述活动支座上的固定基准位置与相对于所述活动支座移动且与所述主轴托架一体移位的移动基准之间测量所述主轴托架相对于所述活动支座的轴向进给；

-主轴托架热变形检测装置，所述主轴托架热变形检测装置适于测量所述主轴托架在所述主轴托架的所述前表面与相对于所述活动支座移动且与所述主轴托架一体移位的所述移动基准之间的热变形；

所述移动组的特征在于其进一步包括，

另外的检测装置，所述另外的检测装置适于测量所述主轴托架在所述主轴托架的所述前表面与位于所述主轴托架上的所述固定基准位置之间的热变形。

2.根据权利要求1所述的移动组，其中，所述另外的检测装置包括：

-第一杆(32)，所述第一杆(32)由基本上热不变形的材料制成，所述第一杆(32)在前端与后端之间沿轴向方向延伸，所述前端在所述主轴托架的前端的附近固定至所述主轴托架，以及

-第一杆传感器(34)，所述第一杆传感器(34)与所述主轴托架成一体并适于检测所述第一杆的所述后端的轴向距离。

3.根据权利要求2所述的移动组，其中，所述第一杆的所述后端与用于测量所述主轴的进给的所述第一测量装置的所述固定基准位置对齐。

4.根据权利要求2或3所述的移动组，其中，制成所述第一杆的材料的热膨胀系数低于制成所述主轴托架的材料的热膨胀系数。

5.根据权利要求4所述的移动组，其中，所述第一杆的材料的所述热膨胀系数小于所述主轴托架的材料的所述热膨胀系数的十分之一。

6.根据权利要求5所述的移动组，其中，组成所述第一杆的所述材料是因瓦合金。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的移动组，其中，所述主轴托架热变形检测装置包括：

-第二杆(28)，所述第二杆(28)由基本上热不变形的材料制成，所述第二杆(28)在前端与后端之间沿轴向方向延伸，所述前端在所述主轴托架的前端的附近固定至所述主轴托架，以及

-第二杆传感器(30)，所述第二杆传感器(30)与所述主轴托架成一体并适于检测所述第二杆的所述后端的轴向距离。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的移动组，其中，所述第一测量装置包括：

-第一光学标尺(18)，所述第一光学标尺(18)随所述主轴托架一体移位并且在主轴标尺位置(14)固定至所述主轴托架，所述主轴标尺位置(14)构成了位于所述主轴托架上的所述固定基准位置，以及

-第一标尺传感器(20)，所述第一标尺传感器(20)随所述主轴一体旋转并且适合与所述第一光学标尺配合以检测所述主轴的轴向进给。

9.根据权利要求8所述的移动组，其中，所述第二测量装置包括：

-第二光学标尺(22)，所述第二光学标尺(22)随所述活动支座一体移位并且在主轴托架标尺位置(24)固定至所述活动支座，以及

-第二标尺传感器(26)，所述第二标尺传感器(26)随所述主轴托架一体旋转并且适合与所述第二光学标尺配合以检测所述主轴托架的轴向进给。

10.根据权利要求1至3中任一项所述的移动组，包括主轴热变形检测装置，所述主轴热变形检测装置适于检测所述主轴的固定点的位置以确定所述主轴的热变形。