[发明专利]光学传感装置和方法

权利要求书

1.一种检测微谐振器的扰动存在的方法，包括：

用与所述微谐振器光通信的光源激发微谐振器的至少第一谐振 导向光学模式和第二谐振导向光学模式，其中谐振导向光学模式是由 于存在高折射率区域而导致的至少一维中受限定的在光学构造中所允 许的电磁场，并且谐振导向光学模式在光学构造中受附加的边界条件 需要制约；

诱发所述第一谐振导向光学模式中的第一频率偏移和所述第二 谐振导向光学模式中的第二频率偏移；以及

将所述第一频率偏移与所述第二频率偏移进行比较。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括如果所述第一频率偏移不 同于所述第二频率偏移则确定扰动存在的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其中诱发所述第一谐振导向光学 模式中的第一频率偏移的步骤包括引起所述微谐振器的扰动。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述诱发所述第一谐振导向 光学模式中的第一频率偏移的步骤包括改变散射中心和所述微谐振器 之间的光学耦合的强度。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述散射中心为纳米颗粒。

6.根据权利要求4所述的方法，其中所述改变散射中心和所述微 谐振器之间的光学耦合的强度的步骤还包括改变所述散射中心和所述 微谐振器之间的距离。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述激发至少第一谐振导向 光学模式和第二谐振导向光学模式的步骤包括以下步骤：

用所述光源激发所述微谐振器的第三谐振导向光学模式和第四 谐振导向光学模式；

通过所述第三谐振导向光学模式和第四谐振导向光学模式与第 一光学散射中心的相互作用将所述第三谐振导向光学模式和第四谐振 导向光学模式散射成所述第一谐振导向光学模式和第二谐振导向光学 模式。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二频率偏移为零。