[发明专利]利用相关的光子数和能量测量的谱计算机断层摄影在审
| 申请号: | 200780043937.5 | 申请日: | 2007-11-13 |
| 公开(公告)号: | CN101542316A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
| 发明(设计)人: | R·卡尔米 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29;G01T1/17 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王 英;刘炳胜 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 利用 相关 光子 能量 测量 计算机 断层 摄影 | ||
1.一种X射线探测装置,其包括:
X射线探测器(100),其生成具有响应于由所述探测器接收到的X射 线光子而变化的量值的探测器信号;
光子计数器(24),其对由所述探测器在读取周期中接收到的X射线光 子进行计数;
光子能量确定器(26),其生成表示所述探测器信号的量值响应于由所 述探测器在所述读取周期中接收到的X射线光子的总变化的输出,其中, 所述总变化是所述探测器信号与经延迟的信号之间的差异的和,并且其中, 所述经延迟的信号是所述探测器信号的经延迟的形式。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述探测器信号的所述量值响 应于所接收到的光子而增加,且所述输出表示所述探测器信号的所述量值 响应于由所述探测器在所述读取周期中接收到的X射线光子的总增加。
3.根据权利要求2所述的装置,其包括光子探测器(206),所述光子 探测器探测指示所接收到的光子的所述探测器信号的变化,并且其中,所 述光子能量确定器测量所述探测器信号的所述量值响应于来自所述光子探 测器的信号的变化。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述光子能量确定器为由所述 探测器在所述读取周期中接收到的多个光子中的每个测量所述探测器信号 的上升信号净量值。
5.根据权利要求1所述的装置,其中,在大约2纳秒至20纳秒的时 间周期上测量量值的所述变化。
6.根据权利要求1所述的装置,其中,所述光子能量确定器包括测量 所述探测器信号的变化的探测器信号变化确定器(210)和累加所测量的变 化的加法器(214)。
7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述探测器信号变化确定器包 括延迟所述探测器信号的延迟部件(402)和计算所述探测器信号与所述经 延迟的信号之间的所述差异的计算部件(404)。
8.根据权利要求6所述的装置,其包括采样和保持所测量的变化的采 样和保持(212)。
9.根据权利要求1所述的装置,其包括能量计算器(46),所述能量 计算器使用所述光子计数和所述输出以计算指示在所述读取周期中接收到 的所述X射线光子的能量的值。
10.根据权利要求9所述的装置,其中,所计算的值是平均能量。
11.根据权利要求1所述的装置,其包括:
对象支架(16),其支撑检查区域(14)中的检查对象;
X射线源(12),其围绕所述检查区域从多个角位置生成X辐射;
多个X射线探测器、光子计数器和光子能量确定器。
12.一种X射线探测方法,其包括:
探测由X射线计算机断层摄影装置的X射线探测器元件(100)接收 到的X射线光子;
对所探测到的光子进行计数;
测量所探测到的光子的能量,其中,响应于对所述光子的所述探测而 执行所述测量,其中,测量所述能量包括:
延迟探测器元件信号以产生经延迟的探测器元件信号;
确定所述经延迟的探测器元件信号与所述探测器元件信号之间的 信号差异;
采样所述信号差异;以及
累加多个经采样的信号差异;
针对读取周期重复所述探测步骤、计数步骤和测量步骤;以及
生成指示由所述探测器元件在所述读取周期中接收到的光子的数量和 总能量的输出。
13.根据权利要求12所述的方法,其中,所述测量步骤的执行与由所 述X射线探测器元件生成的信号的量值增加在时间上是同步的。
14.根据权利要求12所述的方法,其中,测量包括测量由所述探测器 元件生成的信号的量值变化。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述变化是所述探测器元件 信号的上升信号净量值。
16.根据权利要求12所述的方法,其中,所述输出包括平均能量。
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