[发明专利]热光移相器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200780038861.7 申请日: 2007-10-10
公开(公告)号: CN101529312A 公开(公告)日: 2009-09-09
发明(设计)人: 高桥森生 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G02F1/01 分类号: G02F1/01
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王新华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 移相器 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种热光移相器,包括:

衬底;

牺牲层,所述牺牲层形成在所述衬底上方;

第一包覆层,所述第一包覆层形成在所述牺牲层上方,所述第一包覆层的薄膜密度高于所述牺牲层的薄膜密度;

光波导芯,所述光波导芯形成在所述第一包覆层上方;

第二包覆层,所述第二包覆层设在所述第一包覆层之上以覆盖所述光波导芯;

热生成加热器,设于直接位于所述光波导芯上方的所述第二包覆层的一个区域内;和

形成在所述光波导芯侧面区域中的凹槽,所述凹槽从所述第二包覆层的表面延伸至所述衬底的表面。

2.如权利要求1所述的热光移相器,其中:

所述牺牲层的体积密度至少为2.0g/cm3

3.如权利要求1所述的热光移相器,其中:

所述牺牲层和所述第一包覆层由硅玻璃制成。

4.如权利要求1所述的热光移相器,其中:

所述牺牲层和所述第一包覆层由硅玻璃和来自磷玻璃、硼玻璃和锗玻璃中的至少一种杂质材料制成。

5.如权利要求4所述的热光移相器,其中:

所述牺牲层中的杂质材料含量和所述第一包覆层中的杂质材料含量之差不超过1wt%。

6.如权利要求4所述的热光移相器,其中:

所述牺牲层中的杂质材料含量和所述第一包覆层中的杂质材料含量均不超过4wt%。

7.一种热光移相器的制造方法,包括:

在衬底上形成牺牲层;

在所述牺牲层上形成第一包覆层,所述第一包覆层的薄膜密度高于所述牺牲层的薄膜密度;

在所述第一包覆层上形成光波导芯;

在所述第一包覆层之上形成第二包覆层以覆盖所述光波导芯;

在所述第二包覆层的直接位于所述光波导芯上方的一个区域中形成热生成加热器;和

在所述光波导芯的侧面区域内形成从所述第二包覆层的表面延伸至所述衬底的表面的凹槽。

8.如权利要求7所述的热光移相器的制造方法,其中:

所述牺牲层采用等离子增强化学气相沉积方法、常压化学气相沉积方法或溅射方法形成。

9.如权利要求7所述的热光移相器的制造方法,其中所述形成凹槽的步骤包括:

通过利用反应离子蚀刻设备从所述第二包覆层蚀刻至所述牺牲层的最底部分来形成垂直槽;和

在所述垂直槽形成后,利用湿法蚀刻方法在所述垂直槽上进行侧面蚀刻。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电气株式会社,未经日本电气株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200780038861.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top