[发明专利]事故传感器和用于处理至少一个测量信号的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种事故传感器以及一种用于处理至少一个测量信号的方 法。

背景技术

由DE 10237162A1已公知，一传感器元件提供一被放大和被数字化 的测量值。该测量值被进行预处理。

发明内容

本发明提出了一种事故传感器，其具有一用于检测至少一个测量量的 传感器元件、一逻辑组件、一个第一存储器和一个第二存储器，该第一存 储器可被重写地构成以及在该第一存储器中存储了用于影响该至少一个测 量量的处理的、来自该事故传感器的生产和/或来自该事故传感器的运行中 的适应的第一数据，在该第二存储器中固定布线地存储了用于影响所述处 理的第二数据，以便保证该传感器的基本功能，该逻辑组件根据该第一存 储器的一测试加载所述第一或第二数据，用于处理所述至少一个测量量。

本发明提出了一种用于处理一事故传感器的至少一个测量量的方法， 具有以下方法步骤：检测该至少一个测量量；测试一个第一存储器 (MEM1)，该第一存储器可被重写地构成；根据该测试加载第一或者第二 数据，其中，这些第一数据存储在该第一存储器中，这些第二数据固定布 线地存储在一个第二存储器中；通过来自所述事故传感器的生产和/或来自 所述事故传感器的运行中的适应的所述第一数据或所述第二数据影响所述 处理，以便保证该传感器的基本功能。

根据本发明的事故传感器以及用于处理至少一个测量信号的根据本发 明的方法相对而言具有其优点，即可被重写的存储器、优选为EEPROM被测 试，根据该存储器测试决定从哪个存储器中加载数据，以便影响该至少一 个测量值的处理。因此可以在该可被重写的存储器失效时动用硬布线的数 据，这些数据虽然导致得不到所述测量值的如此高的精确度，但该事故传 感器的基本功能在这样的关键的传感器中总还是被保证。因此可靠性、例 如人身保护系统的可靠性被决定性地提高。

除了EEPROM，也考虑其它的存储器类型作为可被重写的存储器，也就 是说其它的、例如用作计算机中的工作存储器的半导体存储器。例如ROM 可被视为固定布线的存储器。

作为控制机构控制该事故传感器中的全部的逻辑组件优选设计为集成 电路，即设计为ASIC。该逻辑组件也可以具有多个集成的组件或者电路或 者完全分离的组件。该逻辑组件也可以变换地作为处理器存在。

来自可被重写的存储器中的第一数据被作为校准信息用于通过这些数 据使得传感器在它的灵敏度方面更精确。校准本身在生产事故传感器时进 行。因此从该可被重写的存储器中动用来自该校准的数据。来自该事故传 感器的运行中的适应同样可被利用。

通过在以下的说明中列举的措施和进一步构型可实现上述的事故传感 器以及用于处理至少一个测量值的方法的有利的改进。

特别有利的是，所述测试借助于校验和来进行。当前使用CRC校验和 方法(CRC＝Cyclic Redundancy Check＝循环冗余校验)用于校验EEPROM 中我们的校准信息。

在存储和传输二进制表示的数据时，个别的位可能因为干扰而产生错 误。为了识别这种错误，在这些数据后附加一些校验位。通过附加多于仅 仅一个校验位可以迅速提高错误识别率。CRC方法是一种用于生成这些校验 位的方法。CRC校验和(Cyclic Redundancy Check)的基础是，位串(即 0和1的序列)被解释为具有系数0和1的多项式。在k位时就有k项，从 x^(k-1)到x^0。

例如：

110001-＞x⁵+x⁴+x⁰

为了计算CRC校验和，现在发送器和接收器必须定义发生器多项式(该 发生器多项式必须具有一定的特性，见后)。该发生器多项式具有m位。现 在CRC校验和的思想为，通过m位这样地补充数据位的给定的框架，使得 通过该发生器多项式可分解由数据位及校验和组成的多项式。

当前，所述EEPROM具有32位。24位被用作校准信息，剩余的8位是 所谓的FCS位(帧检验序列(frame check sequence))，这些FCS位存储 所使用的校准数据(在传感器的生产中被计算出并被写入EEPROM)的多项 式除法的结果。