[发明专利]显影辊、使用该显影辊的显影设备和图像形成设备有效
| 申请号: | 200780037273.1 | 申请日: | 2007-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN101523304A | 公开(公告)日: | 2009-09-02 |
| 发明(设计)人: | 草场隆;柏原良太;中村实 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | G03G15/08 | 分类号: | G03G15/08 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇;闫俊萍 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显影 使用 设备 图像 形成 | ||
1.一种显影辊,其具有在芯轴外周上的弹性层,并具有其 外周上的含有树脂和树脂颗粒的表面层,
其中所述表面层具有归因于所述树脂颗粒的凸部,并具有 其中粗糙度曲线的偏度Rsk为0.15至0.70的粗糙度的表面,
其中将相对大的树脂颗粒的非存在部通过相对小的树脂颗 粒微细地粗糙化;
其中所述树脂颗粒在体积粒径分布中具有在粒径d1处的峰 P1,和
其中“a”、“b”、“c”、d1、d2和d3满足以下关系式(1)至(7):
4μm≤d2-d1≤12μm (1)
6μm≤d1≤22μm (2)
10μm≤d2≤27μm (3)
2.0体积%≤b≤8.0体积% (4)
1.5≤a/b≤7.0 (5)
0.0≤c/b≤1.1 (6)
d1<d3<d2 (7)
其中,“a”表示在所述体积粒径分布中所述具有所述粒径d 1的树 脂颗粒的体积分数,“b”和“c”表示在所述体积粒径分布中分别 在粒径d2和d3处的体积分数,
其中,d1、d2和d3如下决定:
(I)d1的决定方法
将在直方图的纵轴中显示极大且最大的值的等级的代表 性粒径表示为以μm为单位的d1,所述直方图为显示体积粒径分 布的直方图,其中横轴显示以μm为单位的粒径,纵轴显示体积 分数;
(II)d2和d3的决定方法
在直方图的纵轴中在粒径大于d1处存在极大值的情况下:
在直方图纵轴中显示极大值,并具有大于d 1的代表性粒径 的一个以上等级存在的情况下,将作为在显示极大值的等级的 各代表性粒径中最大的粒径的代表性粒径表示为以μm为单位 的d2;以及以μm为单位的d3显示在直方图的代表性粒径d1和d2 之间的区域中直方图的纵轴中显示极小且最小值的等级的代表 性粒径;
在直方图的纵轴中在粒径大于d 1处没有极大值存在的情况下:
在具有大于d1的直方图代表性粒径的直方图的纵轴中没 有极大值存在的情况下,通过进行以下操作,决定d2和d3:
将具有大于d1的代表性粒径的等级的代表性粒径以代表 性粒径增大的顺序表示为R1、R2、...Rx,条件是x为1以上的整 数;接下来,将具有大于d1的代表性粒径的等级的直方图纵轴 的值表示为Ax,将该Ax与在两相邻侧等级中纵轴的值Ax-1和Ax+1的加性算术平均值比较,即,在绘制横轴中代表性粒径Rx和纵 轴中由式(17)确定的Bx值的图中,将显示极大值的代表性粒径 Rx表示为以μm为单位的d2,以及当在所述绘制横轴中代表性粒 径Rx和纵轴中由式(17)确定的Bx值的图中存在多个极大值时, 将在代表性粒径中最大的粒径Rx表示为以μm为单位的d2;
在绘制横轴中代表性粒径Rx和纵轴中由式(17)确定的Bx 值的图中,将显示存在于代表性粒径d1和d2之间的极小值的代 表性粒径Rx表示为以μm为单位的d3,以及当在所述绘制横轴中 代表性粒径Rx和纵轴中由式(17)确定的Bx值的图中存在变为极 小值的多个代表性粒径时,从变为极小值的代表性粒径中,将 在直方图的纵轴中变为最小值的代表性粒径表示为以μm为单 位的d3:
Bx=Ax-(Ax+1+Ax-1)/2 (17)
条件是x为1以上的整数。
2.根据权利要求1所述的显影辊,其中所述树脂颗粒具有 在所述粒径d2处的峰P2,所述粒径d2为在所述体积粒径分布中 显示极大值的代表性粒径中最大的代表性粒径。
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