[发明专利]电连接装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于集成电路那样的平板状被检查体的通电试验的电连接装置，特别涉及一种将形成在基板上的导电部和被检查体的电极电连接起来的装置。 

背景技术

集成电路那样的半导体器件自器件主体突出有多个电极。这种半导体器件采用叫做插座(socket)的电连接装置进行通电试验(检查)。作为这种电连接装置的1个例子，在专利文献1以及2中有相关记载。 

专利文献1：日本特开平11-31566号公报 

专利文献2：日本特开2003-297506号公报 

专利文献1以及2所述的电连接装置包括并列具有沿上下方向开放的多个狭缝的板状外壳、配置在狭缝中的多个触头、和以沿着触头的排列方向延伸的状态配置在外壳中的棒状探针保持架(probe holder)。各触头具有弯曲的外表面。 

利用多个螺钉构件将外壳安装在配线基板那样的基板上。在将外壳安装在了基板上的状态下，探针保持架将触头的弯曲的外表面按压到基板的配线图案那样的导电部上。 

各触头的前端(针尖)被被检查体的电极按压，从而削掉一部分电极，将被检查体的电极与基板的导电部电连接。在该状态下，进行被检查体的通电试验。 

但是，在上述的电连接装置中，均是以各触头的前端位于狭缝上方的状态将各触头配置在外壳中的，因此被触头的前端削掉的屑经由狭缝到达基板从而使基板的相邻的导电部发生短 路。 

发明内容

本发明的目的在于防止被触头的前端削掉的屑经由狭缝到达基板。 

本发明的电连接装置包括外壳、多个触头和探针保持架；上述外壳包括第1凹部和多个狭缝；上述第1凹部在平行于具有欲与被检查体的电极相连接的导电部的基板的表面内向第1方向延伸并向下方开放；上述多个狭缝沿上述第1方向隔开间隔并在上述表面内沿与上述第1方向交叉的第2方向延伸，各狭缝在其长度方向上的一端部与上述第1凹部相连通，并且至少向上方开放；上述多个触头为板状，用于将上述导电部和上述电极电连接起来，分别具有被上述电极按压的前端，并且各触头具有弯曲的外表面，另外在上述外表面为下侧的状态下，以自上述第1凹部内在上述狭缝内延伸的状态配置在上述外壳上；上述探针保持架被配置在上述第1凹部中，抵接于上述触头的与上述外表面相反的一侧的部位，使得上述触头的上述外表面与上述导电部接触。 

各触头的上述前端俯视看来沿该狭缝的长度方向离开上述狭缝。 

上述外壳还可以包括向上方开放且与上述狭缝的另一端部相连通的第2凹部。 

各狭缝还可以在该狭缝的另一端侧与上述第2凹部相连通。 

各触头还可以在上述狭缝内向斜上方延伸并在上述狭缝内朝向该狭缝的长度方向的另一端部水平延伸，还可以在上述第2凹部内向斜上方延伸。 

电连接装置还可以包括橡胶构件，该橡胶构件用于在上述狭缝的另一端部的上方封闭该另一端部且沿上述第1方向延伸，该橡胶构件被配置在上述第2凹部中，至少在上述触头的前端被被检查体的电极按压时，该橡胶构件在上述触头的作用下而发生弹性变形。 

上述外壳还可以包括在上述第2凹部内沿上述第1方向延伸而与上述狭缝相连通、并向上方开放的第3凹部，上述橡胶构件还可以配置在上述第3凹部中。 

电连接装置还可以包括导向板，该导向板被配置在上述第2凹部中，具有第4凹部，该第4凹部用于将被检查体引导成被检查体的电极与上述触头的前端抵接。 

形成有上述第1凹部的面可以在后端部具有脱落防止部，该脱落防止部用于与上述触头的后端部共同防止上述触头自上述第1凹部脱落。 

各触头可以在后端部具有向后方突出的凸部，该凸部能与上述脱落防止部卡合。 

各触头也可以使上述前端突出到上述外壳的上方。 

采用本发明，由于使各触头延伸到其前端俯视呈沿狭缝的长度方向离开该狭缝的位置，所以被触头的前端削掉的屑落到狭缝之外的部位。因此能够防止被触头的前端削掉的屑经由狭缝到达基板。 

附图说明

图1是表示本发明的电连接装置的第1实施例的俯视图。 

图2是图1的2-2的剖视图。 

图3是卸下图1所示的电连接装置的导向板的俯视图。 

图4是图1所示的电连接装置的触头附近的放大俯视图。 

图5是图1所示的电连接装置的触头附近的放大仰视图。