[发明专利]非易失性存储器系统中的有缺陷区块隔离

说明书

技术领域

本发明大体上涉及非易失性存储器领域，且更明确地说，涉及用于隔离非易失性存 储器系统中的存储器的有缺陷区块的方法和设备。

背景技术

由于信息和娱乐领域中的存储需要的快速增长且由于存储器不断减小的大小和成 本，存储器的使用已不断增加。一种类型的广泛使用的存储器是非易失性半导体存储器， 其即使在电源被移除时也保留其所存储的信息。存在许多种非易失性可擦除可编程存储 器。一种广泛使用的类型的非易失性存储器是快闪存储器。快闪存储器的典型商业形式 利用电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)装置，其由一个或一个以上晶体管单元阵 列组成，每一单元能够非易失性地存储一个或一个以上数据位。存储单元内部分成独立 的区块，每一区块形成一组可在单个操作中擦除的存储位置。每一区块是可在单个操作 中被擦除的最小单位。

当快闪存储器装置被制造时，制造缺陷通常由制造商通过工厂内测试来识别。一般 来说，只要快闪存储器包含少于某一数目的有缺陷或不能用的物理区块，所述快闪存储 器就可被出售。为了增加良率，制造商可包含许多冗余或备用区块以用于替换有缺陷区 块。如果有缺陷区块的数目超过备用区块的数目，那么装置通常被丢弃。按照惯例，有 缺陷区块在工厂处由测试系统识别，所述测试系统单独地测试每一装置，并将有缺陷区 块的地址存储在测试系统存储器中，从而创建有缺陷区块列表。

通常，用于识别有缺陷区块的测试系统过程开始于向待测试的存储器装置提供电 力，且接着扫描存储器的所有区块以识别有缺陷区块。当识别到有缺陷区块时，在测试 系统的存储器中创建所述有缺陷区块的地址的列表。一旦所述装置的测试完成，所述有 缺陷区块就被标记为有缺陷的，以允许防止所述有缺陷区块被使用。在常见途径中，有 缺陷区块或有缺陷区块的选定页每一者个别地以全零写入(编程)。还可使用其它缺陷 标记标志。随后，当存储器装置被上电以供使用时，对存储器区块进行扫描并使用经标 记区块(例如，存储有全零的区块)的地址来创建有缺陷区块列表。此列表存储在所述 存储器装置上的临时存储区中，且用于隔离有缺陷区块使得它们不被使用。

此测试过程导致每一被测存储器装置被个别地以有缺陷区块标志(例如全零)编程。 由于测试通常是在大量(例如，许多电路小片的晶片)存储器装置上执行的，所以所述 测试是低效的，除非可并行测试许多装置。使用常规测试过程一次并行测试许多存储器 装置需要一种复杂的测试系统，其具有大量存储器以存储有缺陷区块列表并接着对所述 区块进行编程。另外，此常规途径限制可用存储器上可能有缺陷的区块的数目，因为如 果有缺陷区块的数目超过存储器装置上所制造的备用区块，那么所述存储器装置通常无 法被出售。

因此，需要一种允许识别和隔离有缺陷存储器区块的方法和设备，其不要求将有缺 陷区块列表存储在测试固定装置中。另外，需要一种用以允许更高效地标记有缺陷区块 的方法和设备，其不要求每一有缺陷区块被单独编程以指示其是有缺陷的。

发明内容

在一个实施例中，提供一种用于处理非易失性存储器装置中的有缺陷区块的方法， 所述非易失性存储器装置具有非易失性存储元件的多个用户可存取区块，其中每一区块 具有一相关联的有缺陷区块锁存器。所述方法包括：感测每一有缺陷区块锁存器以确定 所述有缺陷区块锁存器是否由于缺陷而被设置；以及将对应于被发现为经设置的每一锁 存器的地址数据存储在存储器装置内的临时存储器中。所述方法进一步包括检索所述地 址数据以及基于所述地址数据而停用有缺陷区块。

在另一实施例中，提供一种非易失性存储器装置，其包括非易失性存储元件的多个 用户可存取区块，每一区块具有一相关联的有缺陷区块锁存器。所述装置还包括控制器， 其感测每一区块的有缺陷区块锁存器，并将对应于具有经设置以指示所述区块是有缺陷 的相关联有缺陷区块锁存器的每一区块的地址数据存储在存储器装置上的临时存储区 中。所述控制器随后检索所述存储的地址数据，并使用所述地址数据来设置对应于所述 地址数据的有缺陷区块锁存器，以基于所述地址数据而停用用户可存取区块。

附图说明

据信是新颖的本发明的特征在所附权利要求书中详细陈述。可参考结合附图而进行 的以下描述来最佳地理解本发明以及进一步优点。在图式中，相同参考标号识别相同元 件。