[发明专利]光学层析术系统中的移位检测无效

专利信息
申请号: 200780033124.8 申请日: 2007-09-03
公开(公告)号: CN101511262A 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: W·P·范德布鲁格 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘 鹏;刘 红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 光学 层析 系统 中的 移位 检测
【权利要求书】:

1.一种用于对不透明介质(90)的内部成像的方法(1),包括以下步骤:

a)在接纳体积(60)中容纳(3)所述不透明介质(90),所述接纳体积包括至少一个光入射位置(70a)以及至少一个光出射位置(70b);

b)使用所述至少一个光入射位置(70a)利用来自光源(50)的光照射(5)所述不透明介质(90);

c)使用光电检测器单元(55)使用所述至少一个光出射位置(70b)检测(10)作为照射(5)所述不透明介质(90)的结果的从所述接纳体积(60)中发出的光;

d)使用从所述接纳体积(60)中发出的光检测(15,17)所述不透明介质(90)的出界移位。

2.如权利要求1所述的方法(1),其中检测不透明介质(90)的出界移位基于针对至少一个所述出射位置(70b)比较与在这些出射位置(70b)之一处从接纳体积(60)中发出的光有关的至少两个信号。

3.如权利要求2所述的方法(1),其中通过将借助于检测作为单次照射的结果在单个所述出射位置(70b)处从接纳体积(60)中发出的光而获得的单个信号划分成至少两个集合来获得所述至少两个信号。

4.如权利要求2所述的方法(1),其中通过从单个所述入射位置(70a)照射不透明介质(90)至少两次来获得所述至少两个信号。

5.如权利要求2所述的方法(1),其中当不照射不透明介质(90)时,通过至少两次检测从接纳体积(60)中发出的光来获得所述至少两个信号。

6.如权利要求2所述的方法(1),其中所述至少两个信号涉及检测移位标志信号以及与该移位标志信号有关的参考信号。

7.一种用于对不透明介质(90)的内部成像的设备(45),包括:

a)接纳体积(60),用于接纳所述不透明介质(90),包括至少一个光入射位置(70a)以及至少一个光出射位置(70b);

b)光源(50),用于使用所述至少一个光入射位置(70a)照射所述不透明介质(90);

c)光电检测器单元(55),用于使用所述至少一个光出射位置(70b)检测作为照射所述不透明介质(90)的结果的从所述接纳体积(60)中发出的光;

d)移位检测装置(55,57),用于使用从所述接纳体积(60)中发出的光来检测所述不透明介质(90)的出界移位。

8.一种医疗图像采集设备(105),包括:

a)接纳体积(60),用于接纳所述不透明介质(90),包括至少一个光入射位置(70a)以及至少一个光出射位置(70b);

b)光源(50),用于使用所述至少一个光入射位置(70a)照射所述不透明介质(90);

c)光电检测器单元(55),用于使用所述至少一个光出射位置(70b)检测作为照射所述不透明介质(90)的结果的从所述接纳体积(60)中发出的光;

d)移位检测装置(55,57),用于使用从所述接纳体积(60)中发出的光来检测所述不透明介质(90)的出界移位。

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