[发明专利]使用静止计算机X射线断层造影几何结构的投影数据的采集和再现

权利要求书

1.一种用于采集两组或更多组的投影数据的方法，包含：

触发环形源的多个可寻址X-射线源位置，使得当被触发时每个X-射 线源位置发射X-射线，其中所述触发环形源的多个可寻址X-射线源位置 包含围绕所述环形源的圆周无序地触发X-射线源位置；以及

在与X-射线源位置的每个相应触发相对应的检测器阵列处产生相应的 信号，其中每个相应信号对应于入射到所述检测器阵列上的X-射线，以及 其中总的相应信号对应于两组或更多组的在空间上交错螺旋的扫描数据。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述多个可寻址X-射线源位置 以如下的样式被触发，即由触发的X-射线源位置发射的X-射线不会入射 到检测器阵列上由先前或随后触发的X-射线源位置发射的X-射线也入射 到的那部分检测器阵列上。

3.如权利要求1的方法，其中所述多个可寻址的X-射线源位置以成 对的顺序被触发，以使每对X-射线源位置的触发被偏移固定角度，并且每 个后续对沿着所述环形源相对于在前对而前进。

4.一种成像系统，包括

辐射源控制器(24)，其连接到分布X-射线源(14)，所述辐射源控制 器(24)被配置以触发所述分布X-射线源(14)的多个可寻址X-射线源 位置，使得当被触发时每个X-射线源位置发射X-射线，其中所述辐射源 控制器(24)被进一步配置以围绕所述分布X-射线源(14)的圆周无序地 触发X-射线源位置；以及

检测器采集电路(28)，连接到X-射线检测器阵列(16)以接收在与 X-射线源位置的每个相应触发相对应的检测器阵列处的相应信号，其中每 个相应信号对应于入射到所述检测器阵列上的X-射线，以及其中总的相应 信号对应于两组或多组的在空间上交错螺旋的扫描数据。

5.如权利要求4所述的系统，其中，所述辐射源控制器(24)被进一 步配置以触发X-射线源位置，使得由触发的X-射线源位置发射的X-射线 不会入射到检测器阵列上由先前或随后触发的X-射线源位置发射的X-射 线也入射到的那部分检测器阵列上。

6.如权利要求4所述的系统，其中，所述辐射源控制器(24)被进一 步配置以成对的顺序触发X-射线源位置，以使每对X-射线源位置的触发 被偏移固定角度，并且每个后续对沿着所述分布X-射线源(14)相对于在 前对而前进。

7.一种用于采集两组或更多组的成像数据的方法，包括：

触发环形源的多个可寻址X-射线源位置，使得当被触发时每个X-射 线源位置发射X-射线，其中所述多个可寻址X-射线源位置被无序地触 发；以及

在与X-射线源位置的每个相应触发相对应的检测器阵列处产生相应的 信号，其中每个相应信号对应于入射到所述检测器阵列上的X-射线。

8.如权利要求7的方法，其中所述多个可寻址X-射线源位置被触发 以使每个X-射线源位置的触发从在前的X-射线源位置的触发沿着所述环 形源被偏移预定的角间距。

9.如权利要求7的方法，其中所述多个可寻址X-射线源位置被触发 以使当沿着给定方向围绕所述环形源前进时，在每个触发的X-射线源位置 和以前被触发的X-射线源位置之间的环形源上存在交错的X-射线源位 置。

10.如权利要求7所述的方法，其中，所述多个可寻址X-射线源位置 以如下的样式被触发，即由触发的X-射线源位置发射的X-射线不会入射 到检测器阵列上由先前或随后触发的X-射线源位置发射的X-射线也入射 到的那部分检测器阵列上。