[发明专利]用于环境监测的仪器和方法有效

专利信息
申请号: 200780031158.3 申请日: 2007-08-20
公开(公告)号: CN101542267A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 安东尼奥·费博 申请(专利权)人: 法伊仪器有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01N23/06
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 王 洁
地址: 意大*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 环境监测 仪器 方法
【权利要求书】:

1.用于环境监测的仪器(1),适于通过用于在富集阶段的确定的采样期间收集颗粒物质的 装置来测定空气中分散的颗粒物质的质量浓度,基于操作(F1-F6)和侦查(S12-S56)类型的 两种过滤装置,侦查过滤装置(S12-S56)不暴露于颗粒物质,包括:

-一对独立的抽取管(4,5),各包括各自的用于空气和因此颗粒物质进入仪器(1)的 采样头(2,3);

-用于调节所述抽取管(4,5)流量的装置(8);

-采样及测量单元,包括过滤装置容纳处和用于测量沉积在所述操作过滤装置上的颗粒 物质的质量的装置,

测量装置包括射线发射器(18)和相关的探测器(19),设置成这样以便由所 述发射器发射的射线易于穿过操作(F1-F6)或侦查(S12-S56)过滤装置,然后 被所述探测器(19)检测到,测量装置(18,19)基于β射线衰减技术;

-用于移动所述过滤装置容纳处的旋转圆盘(16),用于使所述操作过滤装置进入它们 的装载、富集、测量和卸载所需的多个连续位置;

-用于相对于所述旋转圆盘对测量装置定位以进行测量的所述测量装置(18,19)的可 移动臂(20);

-用于管理所有元件的控制单元(7),设置成:

(a)在确定的采样期间对沉积在操作过滤装置上的颗粒物质的质量进行测量;

(b)在所述采样期间对暴露于与所述操作过滤装置相同的环境条件下的侦查过滤装 置上进行相同的测量,涉及或不涉及颗粒物质;

(c)通过用阶段(b)进行的测量补偿阶段(a)进行的测量来确定颗粒物质的质量 浓度。

2.根据权利要求1所述的仪器(1),其中所述测量装置包括用于对沉积在所述操作过滤装 置(F1-F6)上的颗粒物质的天然放射性进行测量的装置。

3.根据权利要求1或2所述的仪器(1),其中所述测量装置包括用于为所述探测器(19) 屏蔽所述发射器(18)的可移动护罩(21)。

4.根据权利要求1所述的仪器(1),具有用于多个所述操作过滤装置(F1-F6)的容纳处。

5.根据权利要求4所述的仪器(1),具有6个用于一样多所述操作过滤装置(F1-F6)的容 纳处。

6.根据权利要求1所述的仪器(1),具有用于多个所述侦查过滤装置(S12-S56)的容纳处。

7.根据权利要求6所述的仪器(1),具有6个用于一样多所述侦查过滤装置(S12-S56)的容 纳处。

8.根据权利要求1所述的仪器(1),其中所述操作过滤装置(F1-F6)或所述侦查过滤装置 (S12-S56)包括一张或多张过滤膜(12)。

9.根据权利要求1所述的仪器(1),包括用于所述操作过滤装置(F1-F6)和/或所述侦查过 滤装置(S12-S56)的可移动圆盘(16),用于选择性布置所述操作过滤装置(F1-F6)和/或所 述侦查过滤装置(S12-S56)的一个或多个在选自包括一个或多个装载位置、一个或多个采样 位置、一个或多个测量位置和一个或多个卸载位置的集合的多个位置。

10.根据权利要求9所述的仪器(1),其中所述可移动圆盘是旋转支架。

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