[发明专利]在扁平玻璃退火炉中测量带的温度的设备,以及操作退火炉的方法有效
| 申请号: | 200780024190.9 | 申请日: | 2007-06-25 |
| 公开(公告)号: | CN101479580A | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
| 发明(设计)人: | W·S·库恩;B·施特罗克 | 申请(专利权)人: | 法孚斯坦因公司 |
| 主分类号: | G01K13/06 | 分类号: | G01K13/06;C03B25/06 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 余全平 |
| 地址: | 法国里*** | 国省代码: | 法国;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 扁平 玻璃 退火炉 测量 温度 设备 以及 操作 方法 | ||
1.用于在扁平玻璃退火炉中连续测量玻璃带(G)的表面温度的设备,
其特征在于:
-所述设备包括置于所述玻璃带的两表面之一上的第一子组件(D1),该第一子组件与所述玻璃带(G)的表面齐平,并且从所述第一子组件处在的所述玻璃带的表面侧产生热隔绝空间,
-所述设备包括安置在所述热隔绝空间内的至少一温度测量机件(TC),
-并且,所述设备包括热隔绝空间的温度的测量误差校正部件,该误差由与穿过所述玻璃带的辐射相关的损失造成。
2.按照权利要求1所述的设备,其特征在于,所述测量误差校正部件可以由热计算部件构成,该热计算部件考虑与穿过所述玻璃带的辐射相关的损失,以校正所述热隔绝空间的温度测量误差。
3.按照权利要求1所述的设备,其特征在于:
-所述设备包括两个子组件(D1,D2),即所述第一子组件(D1)和一第二子组件(D2),该两个子组件分别安置在所述玻璃带(G)的两侧并且相面对安置,
-每个子组件(D1,D2)与所述玻璃带的表面齐平,
-一等温空间(2,5)通过一光的和热的隔绝体(3,4)围绕每个玻璃带的温度测量机件(TC,TC2)来实现,
-并且,所述设备包括至少一温度测量机件(TC,TC2),每个温度测量机件安置在所述等温空间(2,5)的一个中,并且被所述子组件的至少之一所支撑,另一子组件构成所述测量误差校正部件。
4.按照权利要求3所述的设备,其特征在于,围绕玻璃带的每个温度测量机件(TC,TC2)的等温空间(2,5)被实施成限制传导的、辐射的和对流的热损失。
5.按照权利要求4所述的设备,其特征在于,围绕每个温度测量机件(TC,TC2)的所述等温空间(2,5)按在隔绝层的表面中的中空部的形式实施,该隔绝层与所述玻璃带的表面齐平。
6.按照权利要求3所述的设备,其特征在于,分别安置在所述玻璃带(G)的两侧的所述两个子组件(D1,D2)相对于所述玻璃带基本对称,以便不会在所述玻璃带的两表面之间产生温度差异。
7.按照权利要求1至6中任一项所述的设备,其特征在于,所述设备包括多个温度测量机件(TC),所述温度测量机件布置在沿着平行于所述玻璃带的宽度的方向上的多个点处,以便测定在所述玻璃带的宽度上的温度型线。
8.按照权利要求3所述的设备,其特征在于,所述设备包括至少一温度测量机件(TC,TC2),该温度测量机件布置在所述玻璃带的每个表面上,从而所述测量可以在所述玻璃带的两个表面上、在沿着平行于所述玻璃带的宽度的方向上的一个或多个点处完成,以便测定所述玻璃带的两个表面之间的温度差别的型线。
9.按照权利要求7所述的设备,其特征在于,位于平行于所述玻璃带的宽度的方向上的测量点之间的距离,在所述玻璃带的边缘(9,10)上比在中心区域(11)中更小,从而在所述边缘(9,10)上比在所述玻璃带的中心布置更多的测量点。
10.按照前述权利要求1至6中任一项所述的设备,其特征在于,所述温度测量机件是热电偶(TC,TC2)。
11.按照权利要求1至6中任一项所述的设备,其特征在于,所述温度测量机件是热敏电阻。
12.按照权利要求10所述的设备,其特征在于,所述温度测量机件安置在所述玻璃带的表面附近,没有与所述玻璃带的表面接触。
13.按照权利要求12所述的设备,其特征在于,所述温度测量机件安置在距离所述玻璃带表面少于一厘米处,而不与所述玻璃带表面接触。
14.按照前述权利要求3至6中任一项所述的设备,其特征在于,与所述玻璃带的表面齐平的所述光的和热的隔绝体用具有低摩擦系数的柔性材料制成。
15.按照权利要求14所述的设备,其特征在于,所述光的和热的隔绝体由一层矿物棉或一层玻璃棉构成。
16.扁平玻璃退火炉,
其特征在于,所述扁平玻璃退火炉装配有至少一按照前述权利要求中任一项所述的用于在扁平玻璃退火炉中连续测量玻璃带的表面温度的设备。
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