[发明专利]具有光导体的布置

说明书

本发明涉及一种具有光导体的布置。

用于引导辐射或者光的光导体会折断或者损伤。

本发明的某些实施形式的任务在于，提供一种改进的具有光导体的布 置。

该任务通过根据权利要求1所述的布置来解决。该布置的其他扩展方 案以及具有该布置的发光装置是其他权利要求的主题。

本发明的一个实施形式提供了一种具有光导体和检测装置的布置，其 中：

-光导体包括芯区和包围芯区的护层区，并且该芯区具有比护层区更高的 折射率，并且

-在该布置中检测装置可以检测光导体的损伤。

在这种布置中，光导体的芯区例如可以借助由于从芯区至护层区的折 射率跃变引起的反射或者干涉来引导光或辐射，例如短波辐射如紫外 (UV)辐射。由于有检测装置，所以可以可靠地检测光导体的损伤。

在本发明的另一实施形式中，该布置具有作为检测装置的组成部分的 第一导电连接，该第一导电连接分布在光导体上或在光导体中，例如分布 在光导体的护层区中或在护层区上，其中该第一导电连接的功能能力指示 了光导体的功能能力。此外，可以存在用于检查第一导电连接的功能能力 的装置，其中第一导电连接的功能能力指示了光导体的功能能力。

在线缆状的光导体例如导光杆或者玻璃纤维的情况下，第一导电连接 有利地沿着光导体的主轴线分布，并且由此可以特别灵敏地指示光导体的 损伤。用于检查第一导电连接的功能能力的装置例如可以包括电源，该电 源将电脉冲送到第一导电连接中，例如送到线中，并且由此检查该脉冲在 光导体的走向上的长度。于是，通过在另一线端部的脉冲反射和传播时间 来确定第一导电连接的长度，例如线的长度。

此外，可能的是，第二导电连接附加地穿过光导体，该第二导电连接 与第一导电连接形成回路，并且用于检查该第一导电连接的功能能力的装 置还包括可以检测在该回路中流动的电流的装置。这例如可以是晶体管电 路，该晶体管电路只有当所述回路闭合时才为辐射源提供能量，并且由此 指示光导体的完好性。第一和第二导电连接例如可以在光导体的其上设置 有转换材料的端部上例如借助金属套筒或金属环连接成电流回路。

也可能的是，第二导电连接通过光导体与第一导电连接间隔地分布， 并且用于检查第一导电连接的功能能力的装置可以检测在第一导电连接 与第二导电连接之间存在的电压。例如，可以测量在彼此间隔的第一和第 二导电连接之间的电容效应，并且由此通过电容变化或者RC谐振漂移来 检查光导体的完好性。

有利地，这些导电连接或仅仅一个导电连接比芯区更脆。在这样的情 况下，于是保证了在机械负载的情况下，在光导体折断或者受损伤之前导 电连接就被断开。在此，导电连接也可以分布在光导体的护层区上或在护 层区中，或者例如分布在护层区与芯区之间。

脆性通常理解为固体的特性，在应力下变为破碎而不是塑性或者弹性 形变。在这方面，参考在斯图加特的Georg-Thieme出版社的第9版 Roempp Chemielexikon中的术语“脆性”，其通过引用完全结合于此。

此外，存在本发明的某些实施形式，其中光导体具有第一端部和第二 端部，其中在第二端部上存在转换材料，该转换材料将通过光导体传送的 第一波长的辐射转换成第二波长的光，并且在第一端部上存在作为检测装 置的组成部分的第一检测器，该检测器检测第二波长的光。第二波长的光 例如可以通过光学反向耦合经光导体向回传送，并且随后被第一检测器检 测。

具有光导体和检测装置的布置也可以是发光装置的组成部分，其中在 光导体的第一端部上附加地存在辐射源，该辐射源发射第一波长的辐射。