[发明专利]专用光谱照射光谱学

权利要求书

1、一种用于确定分析物水平的设备，所述设备包括：

照射装置(20、25)，其用于用输入光谱照射一部分身体(1)，所述输入光谱包括两个组分，所述两个组分为包括宽带范围内的波长的第一宽带组分(20)，以及包括与所述分析物吸收相关的选定波长的第二选定组分(25)；

收集器(30)，其用于收集透射光和/或反射光；

测量装置(30)，其用于测量随波长而变的透射光强和/或反射光强；

相关器(40)，其用于对透射光强和/或反射光强作出响应而获取所述分析物水平。

2、如权利要求1所述的设备，所述相关器包括处理单元，其用于根据所述透射强度和/或反射强度以及根据回归矢量计算所述分析物水平。

3、如权利要求2所述的设备，还包括用于存储回归矢量的存储单元。

4、如权利要求1所述的任一设备，所述照射布置为在大约660nm到大约3500nm的范围内。

5、一种以无创的方式确定分析物水平的方法，包括：

用包含两个组分的输入光谱照射一部分身体，所述两个组分为包括宽带范围内的波长的第一宽带组分，以及包括预先选定的波长的第二选定组分；

收集透射光和/或反射光；

测量随波长而变的透射强度和/或反射强度；

对透射光强和/或反射光强作出响应而使得所述分析物水平相关。

6、如权利要求5所述的方法，还包括选择所述第二组分的波长的步骤。

7、如权利要求5所述的方法，所述选择波长的步骤包括：

用所述光的所述第一宽带组分照射参考样品；

收集透射光和/或反射光；

计算第一回归矢量；以及

选择所述第一回归矢量具有最大振幅的波长。

8、如权利要求5所述的任一方法，还包括评价第二回归矢量的步骤。

9、如权利要求8所述的方法，当用所述光的所述第一宽带组分和所述选定的波长两者照射参考样品时，评价所述第二回归矢量。

10、如权利要求8所述的方法，使所述分析物水平相关的所述步骤包括根据透射光和/或反射光以及根据所述第二回归矢量计算所述分析物水平的步骤。