[发明专利]光学扫描设备无效
| 申请号: | 200780017288.1 | 申请日: | 2007-05-04 |
| 公开(公告)号: | CN101443846A | 公开(公告)日: | 2009-05-27 |
| 发明(设计)人: | F·兹普;C·A·弗舒伦 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G11B7/095 | 分类号: | G11B7/095;G11B7/135 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李静岚;刘 红 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 扫描 设备 | ||
1、一种用于扫描记录载体(2)的光学扫描设备(3),所述光学扫描设备(3)包括:
物镜单元(20),其被适配成除了至少主辐射光束(6)之外在散焦模式下朝向所述记录载体(2)透射辅助辐射光束(21),其中所述主辐射光束(6)入射在所述记录载体(2)上以用于读出和/或写入操作;
衍射元件(14),其被适配成衍射所述辅助辐射光束(21),从而至少定义对应于所述辅助辐射光束(21)的测量区域(60),
其中,所述测量区域(60)由所述衍射元件(14)定义,从而允许关于所述辅助辐射光束(21)跨越所述物镜单元的物镜与所述记录载体(2)之间的间隙的倏逝波耦合对所述记录载体(2)进行倾斜控制,同时所述主辐射光束(6)被用于读出和/或写入操作。
2、根据权利要求1的光学扫描设备,其特征在于,所述衍射元件(14)从所述主辐射光束(6)生成所述辅助辐射光束(21)。
3、根据权利要求2的光学扫描设备,其特征在于,所述衍射元件(14)包括透明且未结构化的中心(15)和光栅(16),其中所述透明且未结构化的中心(15)用于生成由所述物镜单元(20)聚焦在所述记录载体(2)的一层上的所述主辐射光束(6),所述光栅(16)用于生成所述辅助辐射光束(21)。
4、根据权利要求3的光学扫描设备,其特征在于,所述光栅(16)是同心光栅。
5、根据权利要求1的光学扫描设备,其特征在于,所述主辐射光束(6)的光束剖面(44)至少与所述测量区域(60)分隔开。
6、根据权利要求5的光学扫描设备,其特征在于,所述衍射元件(14)被适配成使得所述测量区域(60)包括区域(62),并且所述物镜单元(20)被适配成使得所述主辐射光束(6)的所述光束剖面(44)至少被设置在所述区域(62)内部。
7、根据权利要求6的光学扫描设备,其特征在于,所述衍射元件(14)被适配成使得所述主辐射光束(6)的所述光束剖面(44)通过分隔区域(63)与所述测量区域(60)分隔开。
8、根据权利要求7的光学扫描设备,其特征在于,所述物镜包括尖端(23),并且所述衍射元件(14)被适配成使得所述测量区域的边界(64)至少被设置在所述物镜的所述尖端(23)的平坦区域(22)的内部。
9、根据权利要求8的光学扫描设备,其特征在于,所述测量区域(60)的所述边界(64)被设置在包括边缘间隔(65)的所述物镜(18)的所述尖端(23)的所述平坦区域(22)的内部。
10、根据权利要求9的光学扫描设备,其特征在于,所述测量区域(60)至少近似是环状测量区域。
11、根据权利要求1的光学扫描设备,其特征在于,辐射检测器(34),其被设置成通过检测由所述物镜单元(20)的所述物镜(18)的出射表面(22)反射的所述辅助辐射光束(21)的强度分布来产生倾斜误差信号。
12、根据权利要求11的光学扫描设备,其特征在于,所述辐射检测器(34)被设置成通过检测由所述物镜(17)的所述出射表面反射的所述主辐射光束(6)的强度来同时生成所述倾斜误差信号和间隙误差信号。
13、根据权利要求12的光学扫描设备,其特征在于,所述辐射检测器(34)包括至少一个主辐射检测器元件(66),其用于检测由所述物镜(18)的所述出射表面(22)反射的所述主辐射光束(6)的强度,以便产生间隙误差信号。
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