[发明专利]作为温度传感器的磁阻传感器

权利要求书

1、一种用于对调制磁场的磁场属性进行定性或定量检测的检测系统(100，150)，所述检测系统(100，150)包括至少一个磁传感器元件(102)、用于提供流经所述至少一个磁传感器元件(102)的具有第一频率(f₁)的感应电流(I_sense)的电流控制器(104)和控制装置(108)，

其中所述控制装置(108)用于在第一频率f₁从所述至少一个磁传感器元件(102)获得电气特性，以导出所述至少一个磁传感器的与温度相关的参数，以及

所述控制装置(108)还用于在至少第二频率(f₂)从所述磁传感器元件(102)获得电气特性，以在考虑所导出的与温度相关的参数的情况下，导出所述磁场属性的定性或定量特性，其中所述至少第二频率(f₂)与所述第一频率(f₁)不同。

2、根据权利要求1所述的检测系统(100，150)，其中，所述磁场属性是由邻近电流(I_adj)或磁性粒子产生的磁场的幅度。

3、根据权利要求1所述的检测系统(100，150)，所述磁场属性具有特征磁场频率(f_m)，其中所述第一频率(f₁)是与所述磁场频率(f_m)基本上不同的频率，并且所述至少第二频率(f₂)是所述磁场频率(f_m)和所述第一频率之和或差(f_m+f₁，f_m-f₁)中至少之一。

4、根据权利要求3所述的检测系统(100)，所述检测系统(100)还包括调制装置(112)，用于在所述磁场频率(f_m)调制所述磁场属性。

5、根据权利要求3所述的检测系统(100)，其中，所述第一频率(f₁)等于0赫兹。

6、根据权利要求1所述的检测系统(100，150)，其中，所述控制装置(108)用于在所述第一频率f₁从所述磁传感器元件(102)获得电气特性，并同时执行在所述第二频率f₂从所述磁传感器元件(102)获得电气特性。

7、根据权利要求1所述的检测系统(100，150)，其中，所述至少一个磁传感器元件(102)是至少一个磁阻传感器元件。

8、根据权利要求7所述的检测系统(100，150)，其中，所述至少一个磁阻传感器元件(102)是巨磁阻传感器元件、各向异性磁阻传感器元件或隧道磁阻传感器元件中任何一种。

9、一种用于对调制磁场的磁场属性进行定性和定量检测的方法(200)，所述方法包括

在第一频率(f₁)提供流经至少一个磁传感器(102)的感应电流(I_sense)，

在所述第一频率(f₁)导出(204，206)所述至少一个磁传感器(102)的与温度相关的参数，

在考虑所述至少一个磁传感器(102)的与温度相关的参数的情况下，使用所述至少一个磁传感器(102)在第二频率(f₂)导出(210，212)所述磁场属性的定性或定量特性。

10、根据权利要求9所述的方法，其中，所述导出(204，206)与温度相关的参数包括在所述第一频率(f₁)获得(206)所述至少一个磁传感器(102)的电气特性(E₁)，并根据所述第一电气特性(E₁)或其分量确定所述与温度相关的参数。

11、根据权利要求10所述的方法，其中，所述导出定性或定量特性包括在所述第二频率(f₂)获得(210)所述至少一个磁传感器(102)的第二电气特性(E₂)，并根据所述第二电气特性(E₂)和所述与温度相关的参数确定(212)所述定性或定量特性。

12、用于对调制磁场的磁场属性进行定性或定量检测的检测系统(100，150)在分子诊断、生物样品分析或化学样品分析中的应用，

所述检测系统(100，150)包括至少一个磁传感器元件(102)、用于提供流经所述至少一个磁传感器元件(102)的具有第一频率(f₁)的感应电流(I_sense)的电流控制器(104)和控制装置(108)，

其中所述控制装置(108)用于在第一频率(f₁)从所述磁传感器元件(102)获得电气特性，以导出所述至少一个磁传感器元件的与温度相关的参数，以及

所述控制装置(108)还用于在至少第二频率(f₂)从所述至少一个磁传感器元件(102)获得电气特性，以在考虑所导出的与温度相关的参数的情况下，导出磁场属性，其中所述至少第二频率(f₂)与所述第一频率(f₁)不同。