[发明专利]脏同位素PET重建

权利要求书

1.一种正电子成像方法，包括：

使用指示对象(118)的衰减分布的信息生成假符合校正；

将所述假符合校正应用于来自所述对象的正电子成像检查的数据；

生成指示所述校正数据的人可读图像。

2.根据权利要求1所述的方法，包括使用指示所述对象中活度分布的信息生成所述假符合校正。

3.根据权利要求2所述的方法，包括使用来自所述正电子成像检查的数据生成指示所述活度分布的所述信息。

4.根据权利要求1所述的方法，包括使用来自所述对象的CT扫描的数据生成指示所述衰减分布的所述信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，使用指示所述对象的衰减分布的信息生成所述假符合校正的所述步骤包括：

选择LOR；

选择假符合源位置(304)；

确定由所述源位置产生的沿着所述LOR的假事件的数量；

针对多条LOR的每条重复确定所述事件数量的所述步骤。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，使用指示所述对象的衰减分布的信息生成所述假符合校正的所述步骤包括针对多个源位置的每一个重复所述选择步骤和确定所述事件数量的所述步骤。

7.根据权利要求5所述的方法，包括使用指示所述衰减分布的信息确定所述事件数量。

8.根据权利要求7所述的方法，包括使用指示活度分布的信息确定所述事件数量。

9.根据权利要求1所述的方法，包括将康普顿散射校正和随机校正中的至少一个应用于来自所述正电子成像检查的数据。

10.根据权利要求9所述的方法，包括根据以下函数校正来自所述正电子成像检查的数据：

P_校正＝P_测量-a×S_康普顿-b×CF-c×S_假

其中，P_校正是所述校正数据，P_测量是来自所述正电子成像检查的数据，S_康普顿是所述康普顿散射校正，CF是均匀校正，S_假是所述假符合校正，而a、b和c是定标因子。

11.一种正电子成像装置(100)，包括：

用于获得指示受检查对象(118)中放射性核素衰变的数据的器件(102)，其中，所述衰变包括导致发射时间符合光子对的正电子衰变和导致产生单光子的衰变；

用于测量所述对象的物理特性的器件(104)；

使用所述测得的物理特性校正被探测到时间符合的光子对中的单光子和单光子的器件(129)；

用于产生指示所述校正数据的人可读图像的器件(129)。

12.根据权利要求11所述的装置，其中，所述测得的物理特性包括辐射衰减分布。

13.根据权利要求11所述的装置，其中，所述测得的物理特性包括活度分布。

14.一种包含指令的计算机可读存储介质，所述指令在由计算机执行时使得所述计算机执行一种方法，所述方法包括：

获得指示受检查对象(118)中正电子湮灭的投影数据，所述投影数据包括从脏同位素的衰变产生的假符合；

获得指示所述对象的物理特性的对象特异性数据；

生成假符合校正，所述校正是所述对象特异性数据的函数；

使用所述假符合校正来校正所述投影数据；

生成指示所述校正投影数据的体积图像数据。

15.根据权利要求14所述的计算机可读存储介质，其中，所述假符合校正是在多个假符合源位置(304)处生成的假符合的函数。

16.根据权利要求14所述的计算机可读存储介质，其中，所述假符合校正是对象活度分布的函数。

17.根据权利要求14所述的计算机可读存储介质，其中，生成所述假符合校正的所述步骤包括：

确定由假符合源位置产生的沿着LOR的事件的数量；

针对多个源位置重复所述确定步骤。

18.根据权利要求17所述的计算机可读存储介质，其中，所述方法包括确定沿着多条LOR的每条的假符合分布。