[发明专利]计算机断层造影数据采集装置和方法无效
| 申请号: | 200780009191.6 | 申请日: | 2007-03-05 |
| 公开(公告)号: | CN101405619A | 公开(公告)日: | 2009-04-08 |
| 发明(设计)人: | A·齐格勒;T·尼尔森 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29;G01T1/164 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 张 扬 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 计算机 断层 造影 数据 采集 装置 方法 | ||
1.一种断层造影方法,包括:
接收第一辐射敏感检测器(20)产生的第一投影数据,其中,所述第一投 影数据表示对象的内部,并且其中,所述对象具有轴面尺寸;
接收第二辐射敏感检测器(21)产生的第二投影数据,其中,所述第二投 影数据表示所述对象的所述内部,其中,所述第二辐射敏感检测器具有第 二轴面视场(204),并且其中,所述第二轴面视场比所述对象的轴面尺寸小, 因此使用所述第二投影数据重建的体数据包含截断伪像;
产生表示所述第一投影数据的第一体数据(312);
过滤所述第一体数据以从所述第一体数据消除感兴趣区域;
计算通过所过滤的第一体数据的多个投影;
组合所述第二投影数据和所计算的投影;以及
重建经组合的第二投影数据以产生表示经组合的第二投影数据的体数 据。
2.如权利要求1所述的方法,包括计算通过所述第一体数据的多个第 一投影。
3.如权利要求2所述的方法,其中,计算多个第一投影包括对所述第 一体数据进行插值,并且其中,所述插值是高阶插值。
4.如权利要求2所述的方法,其中,所述第二投影数据包括多个第二 投影,并且所述方法包括:
从第二投影中减去计算的投影;
对于多个第二投影中的每个重复所述减去的步骤。
5.如权利要求1所述的方法,其中,所述第一投影数据包括多个投影, 并且其中,重建包括:
在所述第一投影数据和经组合的第二投影数据中选择时间上相应的投 影;并且
重建所选择的投影。
6.如权利要求5所述的方法,其中,所述对象包括跳动的心脏,并且 其中,所述选择包括根据心动时相选择所述时间上相应的投影。
7.如权利要求1所述的方法,其中,所述第二辐射敏感检测器具有的 轴面分辨率高于所述第一辐射敏感检测器的轴面分辨率。
8.如权利要求7所述的方法,其中,所述第一辐射敏感检测器包括在 相对于检查区域的弧上布置的多个辐射敏感检测器元件(100)。
9.如权利要求7所述的方法,还包括使用光谱信息来区分物质基础机 能。
10.一种断层造影装置,包括:
用于接收第一辐射敏感检测器(20)产生的第一投影数据的模块,其中, 所述第一投影数据表示对象的内部,并且其中,所述对象具有轴面尺寸;
用于接收第二辐射敏感检测器(21)产生的第二投影数据的模块,其中, 所述第二投影数据表示所述对象的所述内部,其中,所述第二辐射敏感检 测器具有第二轴面视场(204),并且其中,所述第二轴面视场比所述对象的 轴面尺寸小,因此使用所述第二投影数据重建的体数据包含截断伪像;
用于产生表示所述第一投影数据的第一体数据(312)的模块;
用于过滤所述第一体数据以从所述第一体数据消除感兴趣区域的模 块;
用于计算通过所过滤的第一体数据的多个投影的模块;
用于组合所述第二投影数据和所计算的投影的模块;以及
用于重建经组合的第二投影数据以产生表示经组合的第二投影数据的 体数据的模块。
11.如权利要求10所述的装置,包括用于计算通过所述第一体数据的 多个第一投影的模块。
12.如权利要求11所述的装置,其中,计算多个第一投影包括对所述 第一体数据进行插值,并且其中,所述插值是高阶插值。
13.如权利要求11所述的装置,其中,所述第二投影数据包括多个第 二投影,并且所述装置包括:
用于从第二投影中减去计算的投影的模块;
用于对于多个第二投影中的每个重复所述减去的步骤的模块。
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